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ICP-AES法检测工业硅八种杂质元素

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本方法采用HF和HNO3(6:2) 微波消解工业硅样品,用ICP-AES 法同时测定工业硅中的CuMnFeNiTiAlP和B等八种杂质元素该方法快速简便准确率高精密度好,对产品质量控制及检验杂质元素含量,具有可操作性和很好地应用价值 全谱ICP发射光谱仪
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