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使用XRF-1800进行的膜厚测定薄膜测定实例

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实验/设备条件
样品提取
实验/操作方法
实验结果/结论
仪器/耗材清单
传统的基本参数法(FP)法只计算X射线荧光(净峰)的强度,而背景基本参数(BG-FP)法增加了散射X射线(背景)强度的计算
高分子薄膜分析中,利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息
利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢元素的信息 波长色散型X射线荧光光谱仪
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