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扫描电子显微镜与透射电子显微镜成像原理有何不同

ca217873 2012-12-05 09:02:44 499  浏览
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全部评论(3条)

  • 靘櫔匪掹s 2012-12-06 00:00:00
    扫描电镜是由高能电子束激发离子束后成像

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  • wangziyao1983 2012-12-10 00:00:00
    扫描电镜主要是电子束照射到样品后的二次电子成像,透射电镜的明场像是透射电子成像

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  • 軘貫谅脯呀厂豆 2017-09-01 14:17:44
    扫描电镜主要是电子束照射到样品后的二次电子成像,透射电镜的明场像是透射电子成像。 电子显微镜简称电镜,英文名Electron Microscope(简称EM)经过五十多年的发展已成为现代科学技术中不可缺少的重要工具。 电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成。 镜筒主要有电子源、电子透镜、样品架、荧光屏和探测器等部件,这些部件通常是自上而下地装配成一个柱体。 电子透镜用来聚焦电子,是电子显微镜镜筒中Z重要的部件。一般使用的是磁透镜,有 时也有使用静电透镜的。它用一个对称于镜筒轴线的空间电场或磁场使电子轨迹向轴线弯曲形成聚焦,其作用与光学显微镜中的光学透镜(凸透镜)使光束聚焦的作用是一样的,所以称为电子透镜。光学透镜的焦点是固定的,而电子透镜的焦点可以被调节,因此电子显微镜不象光学显微镜那样有可以移动的透镜系统。现代电子显微镜大多采用电磁透镜,由很稳定的直流励磁电流通过带极靴的线圈产生的强磁场使电子聚焦。电子源是一个释放自由电子的阴极,栅极,一个环状加速电子的阳极构成的。阴极和阳极之间的电压差必须非常高,一般在数千伏到3百万伏特之间。它能发射并形成速度均匀的电子束,所以加速电压的稳定度要求不低于万分之一。 样品可以稳定地放在样品架上,此外往往还有可以用来改变样品(如移动、转动、加热、降温、拉长等)的装置。 为什么要用荧光屏呢?因为人们的肉眼是看不见电子束的,所以要用荧光屏把电子束变成可见的光源,才能形成眼睛能看得见的像。 探测器用来收集电子的信号或次级信号。 真空装置用以保障显微镜内的真空状态,这样电子在其路径上不会被吸收或偏向,由机械真空泵、扩散泵和真空阀门等构成,并通过抽气管道与镜筒相联接。 透射式电子显微镜因电子束穿透样品后,再用电子透镜成像放大而得名。它的光路与光学显微镜相仿,可以直接获得一个样本的投影。通过改变物镜的透镜系统人们可以直接放大物镜的焦点的像。由此人们可以获得电子衍射像。使用这个像可以分析样本的晶体结构。在这种电子显微镜中,图像细节的对比度是由样品的原子对电子束的散射形成的。由于电子需要穿过样本,因此样本必须非常薄。组成样本的原子的原子量、加速电子的电压和所希望获得的分辨率决定样本的厚度。样本的厚度可以从数纳米到数微米不等。原子量越高、电压越低,样本就必须越薄。样品较薄或密度较低的部分,电子束散射较少,这样就有较多的电子通过物镜光阑,参与成像,在图像中显得较亮。反之,样品中较厚或较密的部分,在图像中则显得较暗。如果样品太厚或过密,则像的对比度就会恶化,甚至会因吸收电子束的能量而被损伤或破坏。 透射电镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~几十万倍。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,必须制备更薄的超薄切片(通常为50~100nm)。 透射式电子显微镜镜筒的顶部是电子枪,电子由钨丝热阴极发射出、通过diyi,第二两个聚光镜使电子束聚焦。电子束通过样品后由物镜成像于中间镜上,再通过中间镜和投影镜逐级放大,成像于荧光屏或照相干版上。中间镜主要通过对励磁电流的调节,放大倍数可从几十倍连续地变化到几十万倍;改变中间镜的焦距,即可在同一样品的微小部位上得到电子显微像和电子衍射图像。 扫描电子显微镜的电子束不穿过样品,仅以电子束尽量聚焦在样本的一小块地方,然后一行一行地扫描样本。入射的电子导致样本表面被激发出次级电子。显微镜观察的是这些每个点散射出来的电子,放在样品旁的闪烁晶体接收这些次级电子,通过放大后调制显像管的电子束强度,从而改变显像管荧光屏上的亮度。图像为立体形象,反映了标本的表面结构。显像管的偏转线圈与样品表面上的电子束保持同步扫描,这样显像管的荧光屏就显示出样品表面的形貌图像,这与工业电视机的工作原理相类似。由于这样的显微镜中电子不必透射样本,因此其电子加速的电压不必非常高。 扫描式电子显微镜的分辨率主要决定于样品表面上电子束的直径。放大倍数是显像管上扫描幅度与样品上扫描幅度之比,可从几十倍连续地变化到几十万倍。扫描式电子显微镜不需要很薄的样品;图像有很强的立体感;能利用电子束与物质相互作用而产生的次级电子、吸收电子和X射线等信息分析物质成分。 扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的人射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。

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背散射电子对扫描电子显微镜的成像作用

       与光学显微镜不同,扫描电子显微镜(SEM)利用电子而不是光线生成所研究样品的图像。为了理解扫描电镜的工作原理,我们必须了解背散射电子(BSEs)。

       背散射电子是高能电子,可用于获取样品各元素分布的高分辨率图像。

       为了描述背散射电子是如何发挥作用的,可以假设围绕地球旋转的小行星不受万有引力作用发生偏移回到太空。同样,当样品被原子轰击时,一些带负电的电子不受带正电的原子核吸引,被反射或“背散射”出样品。

入射电子与原子核相互作用后散射示意图

       背散射电子的产生随元素质量的不同而不同。一般来说,较重的元素其原子核更大,对入射电子的偏转作用比较轻的元素更强烈。因此,与较轻的元素(如硅,其原子序数Z=14)相比,较重的元素(如银,其原子序数Z=47)在扫描电镜成像中显得更亮,因为更多的背散射电子从样品表面射出。

扫描电镜下的太阳能电池成像,与较轻元素硅相比,较重元素银显得更亮。

       通常将探测器直接置于样品上方检测背散射电子,这种探测器由半导体材料构成(通常是硅)。撞击探测器的背散射电子激发硅电子,形成电子空穴对。半导体探测器只对高能电子敏感,因此可用于检测背散射电子。

       背散射电子产生的自由电子和电子空穴对可以在重组前被分离,从而产生电流。该电流可以通过电子电路进行测量,Z终将其转换为关于样品元素信息的高分辨率图像。

       背散射电子图像质量可以根据研究人员的目标随意调节。例如,使用更高的加速电压,电子穿透深度会增加,使得样品表面的薄膜层难以观察。如果研究人员想要研究样品表面薄膜层,就必须使用较低加速电压的入射电子束。

       5kV 和15kV加速电压下锡球样品的及其上的碳泥片背散射电子成像。碳泥片很暗,在15kV的加速电压下难以观察。

       背散射电子可用于获取样品元素的高分辨率图像。通过清楚地了解背散射电子的工作原理和操纵变量,用户可以获取高分辨率图像用于研究所需。



(来源:赛默飞世尔材料与结构分析)

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