国产x射线荧光分析是不是没有分光晶体

huanhuan_1203 2017-10-16 13:26:55 377 浏览

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李根成思 2017-10-17 00:00:00

x射线荧光分析有2种方法：波长色散和能量色散。波长色散是利用分光晶体把不同波长的x荧光分开（光学方法），能量色散由探测器把不同波长的x荧光转化为不同的电信号。对于能量色散法，完全无需分光晶体，对应的工作由探测器完成。用户往往认为波长色散更为高端，其实是一个误区——这是30年前的状况。目前在实验室水平中，能量色散的测量精度已经可以把波长色散远远甩开了（高1个量级以上）。不过这仅仅是实验室水平，在商用水平上目前波长色散要反超一个量级，这是由探测器的造价决定的。但探测器的发展还有很大潜力，造价会越来越低廉，所以个人认为在未来能量色散淘汰波长色散是必然的。国内目前没有成熟的波长色散，几家号称研发成功的也多半是在吹牛皮。不仅没有波长色散，能量色散的精度也比国外的能量色散往往低一个量级所以，国产x射线荧光分析都没有分光晶体。即使有，技术成熟度也有相当大的问题，不建议使用。

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Ni相信自己 2017-10-17 21:54:36

X射线荧光分析仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发样品产生荧光X射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。作为一种质量检测手段，我国大，中型水泥厂（新型干法）几乎都配套使用了X射线荧光分析仪。

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国产x射线荧光分析是不是没有分光晶体:

X射线荧光分析的介绍:

X射线荧光分析的基本原理:

X射线荧光分析的仪器分类:

X射线荧光分析的方法特点:

x射线荧光分析的百分比是什么百分比:

x射线衍射晶体分辨率低:

EPMA 的分光晶体

波长分散型 X 射线谱仪（WDS）为了满足 X 射线衍射条件(Bragg 条件)和几何聚光条件，样品上的 X 射线产生点和分光晶体之间的距离与分光晶体和 X 射线检测器之间的距离相等。

通过使分光晶体和 X 射线检测器沿着罗兰圆移动来检测不同波长的 X 射线。本公司的 EPMA 采用半径为 140mm 和 100mm 的罗兰圆。罗兰圆的半径为 140mm 的 XCE·L 形 X 射线谱仪具有分光范围广，波长分辨率和 P/B 比的特征，100mm 的 H 形 X 射线谱仪具有 X 射线强度高的特征，可以根据目的进行选择。

下面介绍各分光器的 PET, LIF, TAP 分光晶体以及 LDE1 和 LDE2 等轻元素用分光元件。

一．分光器模式图

二．超轻元素用分光元件的检出元素 list

LDE1 和 LDE2 由于分光范围广式通用性高易于使用的分光元件。LDE5H 与累积膜 (STE)相比，成功地将 N 的 x 射线灵敏度提高 30 倍。另外，LDE6H 对微量 C 和微量 B 有很好的效果。

三． PET，LIF，TAP 分光晶体的分光范围

2020-01-17 15:01:42 405 0