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       PHI CHINA在2020年3月19日至26日开办的“PHI CHINA表面分析技术网络讲堂之飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）ZT”讲座圆满落下帷幕。

       本期TOF-SIMSZT网络讲堂进行了理论知识讲解、并结合实际案例分享了实验技术内容。

       从3月19日起，分别由PHI CHINAZS应用专家鲁德凤女士和主任工程师辛国强先生为大家系统、深入地讲解了TOF-SIMS的基本原理、硬件及仪器功能的相关理论知识，同时邀请了ULVAC-PHI原厂应用科学家张薰匀博士为大家讲解了TOF-SIMS在样品制备、测试和分析的实验技术内容。参加课程的老师和同学们在直播平台和微信交流群内积极留言和反馈，讲课老师在每一节课程的Z后进行了现场答疑。

       PHI CHINA始终秉持为广大客户提供Z优质服务的初心！在这特殊的抗疫时期，PHI CHINA通过创新的学习方式，为大家带来多场知识和技术分享交流的盛宴，从2月11日开课到3月26日结课，共举办了XPS、AES和TOF-SIMS三个ZT讲座，总计18节课程。至此，PHI CHINA表面分析技术网络讲堂系列课程就告一段落了！

       在此，感谢广大客户以及来自百余所高校和科研院所的千余名师生积极的支持以及给予我们的鼓励。春已暖，花已开，PHI CHINA将会继续努力，为大家带来更加精彩的技术交流活动，请持续关注我们！

       PHI CHINA表面分析技术网络讲座已经成功开办了三期，感谢广大客户及师生一直以来的关注及支持。为了将更多更好的技术分享给大家，本周将开展“飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）”ZT讲座。

       飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer 简称ToF-SIMS），使用初级脉冲离子入射固体材料表面，通过探测表面激发出的二次离子的飞行时间分辨其质量，以表征材料表面的元素成分、分子结构、分子键接等信息。

01 3月19日15:00

PHI CHINAZS应用专家鲁德凤

TOF-SIMS基本原理、主要功能和应用

1、SIMS的基本原理（包括D-SIMS和TOF-SIMS）；

2、TOF-SIMS的主要功能；

3、TOF-SIMS在材料分析中的主要应用。

02 3月20日15:00

PHI CHINA主任工程师辛国强

TOF-SIMS硬件简介、仪器功能及特性

1、TOF-SIMS仪器结构及其功能；

2、TRFIT能量分析器原理；

3、LMIG离子枪原理；

4、深度剖析离子枪；

5、PHI NanoTOF II特性。

03 时间待定

ULVAC-PHI原厂应用科学家张熏匀

TOF-SIMS的样品制备、测试和分析过程演示以及数据分析

1、不同样品不同测试需求的样品制备；

2、样品测试和分析过程的演示；

3、如何使用软件进行数据分析（图谱解析、MAPPING、深度剖析曲线&3D成像等）。

       本次为期三天的讲座将以网络直播结合现场答疑的方式进行，由PHI CHINAZS专家及ULVAC-PHI原厂应用科学家共同为您解析TOF-SIMS系列别样的精彩。疫情尚未结束，学习不能止步。欢迎扫描下方公众号二维码，回复网络讲堂进行报名。请继续关注我们，更多的干货和技术分享，敬请期待。