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Bruker 公司的Anasys nanoIR3型纳米红外光谱测量系统，是一款基于原子力显微镜（AFM）的纳米表征工具。其采用独有专利的光热诱导共振技术（PTIR，也称AFM-IR），使红外光谱的空间分辨率突破了光学衍射极限，提高至10纳米级别。为揭示纳米尺度下的表界面红外光谱信息提供了可能。该技术曾荣获2010年度美国R&D100大奖。

Bruker纳米红外光谱仪主要由红外光源、光阑、干涉仪（分束器、动镜、定镜）、样品室、检测器以及各种红外反射镜、激光器、控制电路板和电源组成。可以对样品进行定性和定量分析，广泛应用于医药化工、地矿、石油、煤炭、环保、海关、宝石鉴定、刑侦鉴定等领域。

由于超高空间分辨率的红外光谱采集和化学成分成像，被公认为近十来年光谱领域最大的技术进步。该技术曾荣获2010年度 美国R&D100大奖。

在广受欢迎的第二代纳米红外光谱 系统的基础上实现快速扫描功能，光谱采集速度＜ 1s/光谱；专利的轻敲模式纳米红外将空间分辨率提高至 10nm以上，并大大提高红外成像速度，并使得较软的生物材料等软物质的化学成像实现质的飞跃。

优点：

·消除研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合，没有吸收峰的任何偏移

·基于专利保护的脉冲共振增强技术：实现单分子层超薄样品化学分析

·专利技术实现智能的光路优化调整，无需担心光路偏差拖延你的实验进度

·最准确的定性微区化学表征，得到美国国家标准局NIST,橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可

·简单易用的操作，被三十多位企业用户和过百位学术界用户所选择

需要bruker其他型号的产品，可拨打电话021-61552797咨询上海尔迪仪器科技有限公司

产品资料介绍

Bruker纳米红外光谱仪支持全系列扫描探针显微镜模式

Contact Mode（接触模式）

Tapping Mode（轻敲模式）

Lateral Force Microscope（横向力/摩擦力显微镜）

Phase Imaging（相位成像）

Magnetic Force Microscopy (磁力显微镜)

Electrostatic Force Microscopy (静电力显微镜)

Conductive Atomic Force Microscopy (导电原子力显微镜)

Kelvin Probe Force Microscopy (开尔文探针力显微镜)

Force Curve Spectroscopy（力曲线）

Liquid Imaging（液态环境扫描）

Heater-Cooler Imaging（高低温环境扫描）

SThM（扫描热显微镜）

Nano-TA（纳米热分析）

LCR（洛伦兹纳米力学分析）