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显微镜自动聚焦包括高光谱成像系统和自动对焦系统；高光谱成像系统包括物镜和沿光路依次设置在物镜后方的狭缝、光谱仪系统、探测器；显微镜自动聚焦焦系统包括反射平板、对焦成像透镜组、自动对焦探测器、液晶显示系统、数据处理驱动模块和驱动装置；所述反射平板位置可调，反射平板设置在物镜与狭缝之间的光路下方，对焦成像透镜组设置在成像光线经反射平板反射后的光路上，对焦成像透镜组的像面上安装自动对焦探测器，自动对焦探测器分别与液晶显示系统、数据处理驱动模块连接，数据处理驱动模块控制驱动装置，驱动装置带动物镜前后调焦移动。显微镜自动聚焦系统还包括调整装置，所述调整装置包括调整电机和蜗轮蜗杆，调整电机由数据处理驱动模块控制，调整电机与蜗杆连接，蜗轮与反射平板的一端连接，调整电机通过蜗轮蜗杆带动反射平板旋转。显微镜自动聚焦的光谱仪系统为平面光栅光谱仪系统、凸面光栅光谱仪系统、凹面光栅光谱仪系统、棱镜色散光谱仪系统或棱栅色散光谱仪系统中的一种。
显微镜自动聚焦使用人员可通过液晶显示系统观察对焦情况和调焦效果。完成望远物镜对焦后，反射平板转回初始位置，光谱仪可以开始正常工作，望远物镜收集的成像光线经狭缝调制后，经光谱仪系统后进入探测器，完成高光谱成像仪的图谱探测功能。
显微镜自动聚焦模块的聚焦方式有以下几种：
1、一键式自动聚集：开关量脉冲信号。
2、变倍信号（外部电压信号，非485协议信号。从“手动控制”的4针插座处接入外部电压信号）结束后触发自动聚焦。
3、变倍信号（485协议信号）结束后触发自动聚焦。
4、云台控制聚焦，按上、下、左、右四个按键（通过PC机软件或者是键盘），按键抬起后，触发自动聚焦模块（通过485协议信号）。
客户可以自由选择以上的自动聚焦模块聚焦方式中的某一种或者某几种。
这款自动聚焦模块手动输入触发控制端是带COM端的。
自动聚焦模块输入方式：复合视频输入。
根据镜头的实际情况，设置“步数”“步距”“回差”
1、通过485或422码转连接PC机和自动聚焦模块（注：如果使用485码转，必须使用双向码转，即能够收发数据的半双工码转）。
2、打开软件，通过“获取”按钮可以获得当前自动聚焦模块的波特率和地址。
3、获取波特率和地址后，可根据工程需要自行配置地址（1~254）波特率。
4、根据镜头的实际情况，设置“步数”“步距”“回差”；
其中镜头的总行程是‘步数*步距’；步距越小，模块输出的脉冲时间越短，微调效果越好。但过小的步距可能会使某些负载重的镜头驱动困难，造成不能正常自动聚焦。过大的步距可能造成调整镜头聚焦时不够精细；
步距固定下来以后，调整步数。如果步数过小，可能造成镜头不能驱动至两端的极限位置。因为某些镜头设计和安装上的误差，有可能会在自动聚焦模块出现很大的松散结构。如电机向顺时针方向旋转后，接着给一个逆时针旋转的动作，此时电机动作了，但因为实际有齿间缝隙，镜片没有动作。这个时候就要调整回差值。齿间缝隙越大，回差值越大（根据以往经验，安装比较紧密的镜头，回差可设置0或者1。某些间隙比较大的镜头设置为2）；
注：如果调整参数的时候，发现步距已经设置的很小，但驱动还是不够精细，可在聚焦输出上串接电阻，阻值根据实际需要调整。

　   显微镜自动聚焦包括高光谱成像系统和自动对焦系统；高光谱成像系统包括物镜和沿光路依次设置在物镜后方的狭缝、光谱仪系统、探测器；显微镜自动聚焦系统包括反射平板、对焦成像透镜组、自动对焦探测器、液晶显示系统、数据处理驱动模块和驱动装置；所述反射平板位置可调，反射平板设置在物镜与狭缝之间的光路下方，对焦成像透镜组设置在成像光线经反射平板反射后的光路上，对焦成像透镜组的像面上安装自动对焦探测器，自动对焦探测器分别与液晶显示系统、数据处理驱动模块连接，数据处理驱动模块控制驱动装置，驱动装置带动物镜前后调焦移动。显微镜自动聚焦系统还包括调整装置，所述调整装置包括调整电机和蜗轮蜗杆，调整电机由数据处理驱动模块控制，调整电机与蜗杆连接，蜗轮与反射平板的一端连接，调整电机通过蜗轮蜗杆带动反射平板旋转。显微镜自动聚焦的光谱仪系统为平面光栅光谱仪系统、凸面光栅光谱仪系统、凹面光栅光谱仪系统、棱镜色散光谱仪系统或棱栅色散光谱仪系统中的一种。
　　显微镜自动聚焦使用人员可通过液晶显示系统观察对焦情况和调焦效果。完成望远物镜对焦后，反射平板转回初始位置，光谱仪可以开始正常工作，望远物镜收集的成像光线经狭缝调制后，经光谱仪系统后进入探测器，完成高光谱成像仪的图谱探测功能。
　　显微镜自动聚焦模块的聚焦方式有以下几种：
　　1、一键式自动聚集：开关量脉冲信号。
　　2、变倍信号（外部电压信号，非485协议信号。从“手动控制”的4针插座处接入外部电压信号）结束后触发自动聚焦。
　　3、变倍信号（485协议信号）结束后触发自动聚焦。
　　4、云台控制聚焦，按上、下、左、右四个按键（通过PC机软件或者是键盘），按键抬起后，触发自动聚焦模块（通过485协议信号）。
　　客户可以自由选择以上的自动聚焦模块聚焦方式中的某一种或者某几种。
　　这款自动聚焦模块手动输入触发控制端是带COM端的。
　　自动聚焦模块输入方式：复合视频输入。
　　根据镜头的实际情况，设置“步数”“步距”“回差”
　　1、通过485或422码转连接PC机和自动聚焦模块（注：如果使用485码转，必须使用双向码转，即能够收发数据的半双工码转）。
　　2、打开软件，通过“获取”按钮可以获得当前自动聚焦模块的波特率和地址。
　　3、获取波特率和地址后，可根据工程需要自行配置地址（1~254）波特率。
　　4、根据镜头的实际情况，设置“步数”“步距”“回差”；
　　其中镜头的总行程是‘步数*步距’；步距越小，模块输出的脉冲时间越短，微调效果越好。但过小的步距可能会使某些负载重的镜头驱动困难，造成不能正常自动聚焦。过大的步距可能造成调整镜头聚焦时不够精细；
　　步距固定下来以后，调整步数。如果步数过小，可能造成镜头不能驱动至两端的极限位置。因为某些镜头设计和安装上的误差，有可能会在自动聚焦模块出现很大的松散结构。如电机向顺时针方向旋转后，接着给一个逆时针旋转的动作，此时电机动作了，但因为实际有齿间缝隙，镜片没有动作。这个时候就要调整回差值。齿间缝隙越大，回差值越大（根据以往经验，安装比较紧密的镜头，回差可设置0或者1。某些间隙比较大的镜头设置为2）；
　　注：如果调整参数的时候，发现步距已经设置的很小，但驱动还是不够精细，可在聚焦输出上串接电阻，阻值根据实际需要调整。

（来源：上海西努光学科技有限公司）

　   显微镜自动聚焦采用独特的成像和照明光学系统设计，使它有更好的对比度和景深，可选附件丰富，质量和可靠性好，可与国际产品媲美。显微镜自动聚焦使用范围相当广泛，它观察物体时能产生正立的二维空间像，成像清晰和宽阔，具有较长的工作距离，本仪器性能可靠，操作简单，使用方便，且外形美观，使用范围广泛，显微镜自动聚焦满足现代生物、医药、环境、农林、化工、微电子、半导体等领域的检验、测量分析要求，广泛用于生物工程和科学研究、工业装配、测试测量以及品质控制。
　　显微镜自动聚焦是用于放大微小生物，使其能够为人眼看到的仪器。目前的显微镜大都是手动对焦，使用非常麻烦，市场上虽然有少量自动对焦的显微镜，但都是根据图像识别原理设计的，这是非常繁琐和不实用的，因为图像识别反应速度慢，而且国产的步进电机和传动丝杠重复定位精度差，经常发生显微镜的Z轴反复升降而无法停止在清晰的位置。
　　显微镜自动聚焦系统包括反射平板、对焦成像透镜组、自动对焦探测器、液晶显示系统、数据处理驱动模块和驱动装置；所述反射平板位置可调，反射平板设置在物镜与狭缝之间的光路下方，对焦成像透镜组设置在成像光线经反射平板反射后的光路上，对焦成像透镜组的像面上安装自动对焦探测器，自动对焦探测器分别与液晶显示系统、数据处理驱动模块连接，数据处理驱动模块控制驱动装置，驱动装置带动物镜前后调焦移动。物镜收集的成像光线经反射平板反射后，进入对焦成像透镜组，由自动对焦探测器接收；自动对焦探测器将接收到的图像数据传输至液晶显示系统，同时将图像数据传输至数据处理驱动模块，对图像清晰度进行判别;数据处理驱动模块控制驱动装置，驱动装置带动物镜前后调焦移动；显微镜自动聚焦对焦完成后，反射平板返回原始位置。
　　进一步地，显微镜自动聚焦系统还包括调整装置，所述调整装置包括调整电机和蜗轮蜗杆，调整电机由数据处理驱动模块控制，调整电机与蜗杆连接，蜗轮与反射平板的一端连接，调整电机通过蜗轮蜗杆带动反射平板旋转。本发明通过调整装置自动带动反射平板旋转，使显微镜自动聚焦过程更为简单化，此外，采用蜗轮蜗杆，使得调整装置传动平稳、具有结构紧凑、体积小、重量轻。
　　显微镜自动聚焦的对焦效果可以通过液晶显示系统观察，完成高光谱成像仪物镜对焦效果的可视化。显微镜自动聚焦调整装置自动带动反射平板旋转，使对焦过程更为简单化，此外，采用蜗轮蜗杆，使得调整装置传动平稳、具有结构紧凑、体积小、重量轻。显微镜自动聚焦使用人员可通过液晶显示系统观察对焦情况和调焦效果。显微镜自动聚焦通过自动对焦系统，使高光谱成像系统在工作前可以完成物镜的自动对焦，解决了高光谱成像仪野外、实验室繁琐的对焦过程以及对焦的不准确性的问题，简化了高光谱成像仪物镜的对焦过程，提高了对焦的准确性。

（来源:上海西努光学科技有限公司）

全聚焦方式（TFM）

随着可进行全聚焦方式（TFM）检测的设备陆续进入市场，无损检测（NDT）行业也在经历着一个技术进步突飞猛进的重要时期。全聚焦方式（TFM）的出现标志着相控阵超声检测（PAUT）技术又向前迈出了重要的一步。然而，一些相控阵超声检测（PAUT）的从业人员可能仍然对全聚焦方式（TFM）及其与全矩阵捕获（FMC）的关系，以及传统相控阵超声检测（PAUT）和全聚焦方式/全矩阵捕获（TFM/FMC）处理之间的差异，感到困惑。这则应用注释可使那些熟悉相控阵超声检测（PAUT）成像的检测人员对全聚焦方式（TFM）成像有个基本的了解。为了使说明简洁清晰，本文对超声传播模式方面的知识不予说明。

传统相控阵超声检测（PAUT）成像

超声相控阵技术的标志是在被测工件中所需关注的位置聚焦和偏转声束的能力。相控阵聚焦方法为相控阵探头的发射晶片和接收晶片使用延迟，以使短脉冲波形的渡越时间在所需关注的位置处实现同步。在样件的聚焦区域，所生成声束的宽度变窄，且相应的探测分辨率显著提高。

物理声束形成
传统相控阵在发射声束的过程中使基本声波以物理方式叠加在一起，生成一个在被测样件内特定深度上聚焦的声束。发射晶片组形成一个孔径，从这个孔径产生一个相干声脉冲。传统相控阵发射脉冲的行为被称为“物理”声束形成。例如，在S扫描中，物理声束形成的采集过程会为用户指定的每个角度进行。

合成声束形成
在发射器、散射体和接收器之间的声学回路的末端，组成接收孔径的晶片会将来自被测样件的所有回波作为A扫描记录下来。A扫描数据包含回波波幅和传播时间。为了增强样件中某个特定区域的接收灵敏度，A扫描被延迟并总和，好像聚焦是通过物理声束形成而实现的。不过，这一次，所有的延迟和总和都发生在采集设备的软件中。这种接收声束形成被称为“合成”声束形成。合成声束形成所需的所有计算都在专用的前端电子设备中进行，从而实现了快速、实时成像。

传统相控阵超声检测（PAUT）的局限性
相控阵聚焦的好处是明显提高了聚焦区域的灵敏度，从而可在局部区域提高探测性能。不过，这种提高的灵敏度仅 限于被测工件中某个可控且固定的深度。位于聚焦区域之外的反射体会显得模糊不清，而且会比位于聚焦区域内的同等大小的反射体看起来更大些。

FMC（全矩阵捕获）：一种采集策略

TFM（全聚焦方式）：图像的重建

全聚焦方式（TFM）：高分辨率图像的构建

全聚焦方式（TFM）是相控阵基本聚焦原理在被测样件的所限定关注区域（ROI）中的系统性应用。关注区域（ROI）被分割成一个由位置或者“像素”组成的网格，而且网格中的每个像素会通过相控阵声束形成的方法得到聚焦。到目前为止，全聚焦方式（TFM）是生成这种可在各个位置和深度上聚焦的关注区域图像的最有效方法。

然而，如果将通过物理声束形成采集而实现的相控阵超声检测（PAUT）采集策略应用于全聚焦方式，则生成单个全聚焦方式（TFM）图像所用的时间会使人们对大多数无损检测（NDT）应用的部署望而却步。例如，生成一个全聚焦方式（TFM）图像所需的像素数远远高于生成一个可覆盖相同关注区域的S扫描所需的不同角度的数量。通过物理声束形成方式以100个不同角度进行扫查而获得的一个S扫描需要100次采集，而由100 × 100像素构建的全聚焦方式（TFM）图像则需要10000次物理声束形成采集。

为了避免这个采集数量过多的问题，可以采用另一种采集策略：通过为发射相位和接收相位应用合成声束形成的方法，计算网格中的波幅值。这种采集策略需要对应于关注区域（ROI）网格的每个像素位置的一组聚焦法则，以及一组原始基础波形，即基本A扫描。获取这组基本A扫描的有效方法是全矩阵捕获（FMC）数据采集。

FMC（全矩阵捕获）：一种用于实现全聚焦方式（TFM）的采集策略
全矩阵捕获（FMC）是一个采集过程，可以获得所有成对的发射晶片和接收晶片生成的所有A扫描（波幅时间序列）。这些基本A扫描存储在全矩阵捕获（FMC）数据集中。为了获得较好聚焦效果，应该使用构成探头整个孔径的所有晶片，通过合成声束形成方式，生成全矩阵捕获（FMC）数据集。在这种情况下，建立全矩阵捕获（FMC）数据集所需的采集次数等同于探头晶片的数量。全矩阵捕获（FMC）数据集提供有关探头每个晶片之间声束传播的所有信息，包括不同介质交界处的反射以及由缺陷引起的散射等信息。任何类型的相控阵超声检测（PAUT）图像都可以通过使用适当选择的延迟基于全矩阵捕获（FMC）数据集重建，其中包括：扇形扫描、平面波成像（PWI）、动态深度聚焦（DDF）、全聚焦方式（TFM）等。

虽然通过全矩阵捕获（FMC）采集过程生成图像所需的采集数量与相控阵超声检测（PAUT）可能大致相同，但是要处理单个全矩阵捕获（FMC）数据集，却需要很大的存储容量、很宽的传输带宽，以及很强的计算能力。取决于所用设备的电子器件，获得全聚焦方式/全矩阵捕获（TFM/FMC）结果的速度可能会比传统相控阵超声检测（PAUT）更慢。

以实验案例说明相控阵超声检测（PAUT）和全聚焦方式（TFM）图像的差异
为了说明相控阵超声检测（PAUT）和全聚焦方式（TFM）成像之间的差别，我们在此介绍一个使用线性相控阵（PA）探头对钢块中垂直分布的几个相同的横通孔（SDH）进行扫查的设置。

这里的相控阵超声检测（PAUT）S扫描（图a）和全聚焦方式（TFM）图像（图b）使用相同的检测配置、OmniScan X3探伤仪、5L64-A2探头、SA2-N55S-IHC楔块，及32晶片孔径获得。

在相控阵超声检测（PAUT）S扫描（图a）中，每个A扫描都使用唯 一的22毫米聚焦深度获得。处于聚焦区域内的几个横通孔（SDH）以相似的波幅和大小出现在图像中。位于聚焦深度以外较远的横通孔的图像会出现失真现象，且波幅较低。因此要使被测样件中的所有横通孔获得更为一致的定量效果，需要使用不同的聚焦深度生成多个图像。

在全聚焦方式（TFM）图像（图b）中，超声声束在每个像素上聚焦。可以看出，每一个横通孔（SDH）的分辨率都非常好。虽然如此，我们还是可以观察到，位于关注区域边限处的横通孔有些失真的现象。在相控阵超声检测（PAUT）和全聚焦方式（TFM）检测的常见声束形成过程中，这些失真现象是固有的。

全聚焦方式（TFM）与相控阵超声检测（PAUT）的讨论综述
全聚焦方式（TFM）的主要优点是整个图像都以聚焦的分辨率显示，而相控阵超声检测（PAUT）图像仅在声束的聚焦区域中具有较高的分辨率。

仅在传统相控阵超声检测（PAUT）的接收阶段进行的合成声束形成，也会在全聚焦方式（TFM）检测的发射阶段进行，以使采集速率适用于无损检测（NDT）应用。合成声束形成需要对通过全矩阵捕获（FMC）获得的基本A扫描应用特定的延迟。注意，全矩阵捕获（FMC）数据集可以为任何检测的合成声束形成提供基本数据，包括相控阵超声检测（PAUT）和全聚焦方式（TFM）检测。

由于需要处理大量的全矩阵捕获（FMC）数据才能生成全聚焦方式（TFM）图像，因此在使用相同孔径的情况下，全聚焦方式（TFM）的检测效率可能会低于相控阵超声检测（PAUT）。

虽然全聚焦方式（TFM）图像在整个关注区域内高度聚焦，但是它仍然会受到阻碍相控阵超声检测（PAUT）的相同的声学局限性的影响。虽然在相控阵超声检测（PAUT）和全聚焦方式（TFM）中都会观察到波幅的波动和图像失真现象，但是在全聚焦方式（TFM）检测中，被测样件中一组大小相同的散射体在图像中会表现得更为一致。
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超声检测的基本原理仍然适用

首先请切记：全聚焦方式（TFM）与传统的超声检测（UT）和相控阵（PA）技术受相同的物理定律制约。相控阵电子聚焦将探头上各个晶片产生的众多波前汇聚在一个小区域内，这个小区域称为焦点。这种汇聚只能在相控阵探头的近场内实现。

近场的终端对应于压力场在非聚焦超声束的传播轴方向上的ZHZD值。它由探头参数定义，如：晶片大小、探头频率，以及材料声速等。在PA（相控阵）检测中，近场是声波可以聚焦的区域。在这个范围之外的声波被认为是不聚焦的，正如传统的UT（超声检测）一样，PA（相控阵）声波的波幅和分辨率也会随着声程的延长而降低。相同的聚焦和近场限制也适用于全聚焦方式（TFM），这意味着适用于PAUT（相控阵超声检测）的定律同样适用于TFM。

在探头特性方面的考虑以及针对聚焦能力的权衡

探头频率、晶片大小和晶片数量是影响检测设置和检测质量的几个因素。例如，由于近场长度与探头频率和孔径大小直接成正比，具有较高频率和较大激发孔径的探头能够在距离探头面更远的位置聚焦，从而可提供更大的聚焦区域，并改善TFM的成像效果。另一方面，近表面分辨率则会变差。

由于所涉及到的各种变量，依靠实验性检测为TFM设置确定理想探头的做法不太切合实际。这也突出说明为什么建模工具对TFM检测配置至关重要。

在为TFM检测选择探头时使用建模工具的必要性

OmniScan X3探伤仪的机载声学影响图（AIM）建模工具有助于预测即将生成的TFM信号的质量。声学影响图显示某种特定的探头和楔块组合在使用某个选定的声波组对某个反射体进行检测时会产生的预期超声响应。借助这种方式，您可以做出正确的选择，包括为您的设置选择合适的探头和楔块。

如果把声学影响图看成是一张可以清楚显示较强波幅响应位置的热图，那么灵敏度指数，就如同ZG温度值。对于“热”的程度没有硬性限制，但是越热越好。通过比较使用不同参数组（即所选探头、楔块、反射体形状和角度、声波组等参数）所生成的不同声学影响图的预测灵敏度指数，您可以清楚地了解到哪种配置ZN满足您的检测需求。

声学影响图（AIM）：探头间距影响TFM检测灵敏度的示例

以下屏幕截图是一些AIM模拟图。生成模拟图所用的探头频率（5 MHz）及其他设置都相同，只有晶片大小（间距）不同。在本例中，当晶片尺寸在活动轴上增加时，其灵敏度指数也会相应提高。

5L64-A32探头型号：32 × 10毫米总激发孔径，0.5毫米晶片间距，10毫米晶片高度，TT脉冲回波声波组，灵敏度指数：20.14

5L64-A12探头型号：38.4 × 10毫米总激发孔径，0.60毫米晶片间距，10毫米晶片高度，TT脉冲回波声波组，灵敏度指数：30.21

5L64-NW1探头型号，64 × 7毫米总激发孔径，1.00毫米晶片间距，7毫米晶片高度，TT脉冲回波声波组，灵敏度指数：42.54

声学影响图（AIM）：探头频率影响灵敏度和覆盖范围的示例

探头频率会影响AIM模拟图，并ZZ影响到TFM检测：探头频率越高，从近场到远场的过渡位置就越远。请注意，在下面的示例中，较高频率探头的灵敏度指数值较高，其AIM着色在整个声束反射区域也更加一致，这意味着随着声程的延长，其波幅变化较小，因而其信号指示大小的变化也较小。

5L64-A32探头型号：5 MHz频率，32 × 10毫米总激发孔径，0.5毫米晶片间距，10毫米晶片高度，TT-TT声波组，灵敏度指数：18.68

0L64-A32探头型号：10 MHz频率，32 × 10毫米总激发孔径，0.5毫米晶片间距，10毫米晶片高度，TT-TT声波组，灵敏度指数：27.38

适当的准备工作和完善的TFM扫查计划，除了要使用如AIM的实用性建模工具外，还应该包括探头策略和可行性测试，以确保充分覆盖感兴趣区域，并获得优质信号。

荧光显微镜主要应用在生物领域及医学研究中，能得到细胞或组织内部微细结构的荧光图像，在亚细胞水平上观察诸如Ca2+ 、PH值，膜电位等生理信号及细胞形态的变化，是形态学，分子生物学，神经科学，药理学，遗传学等领域中新一代强有力的研究工具。

以共聚焦技术为原理的共聚焦显微镜，是用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。

材料科学的目标是研究材料表面结构对于其表面特性的影响。因此，高分辨率分析表面形貌对确定表面粗糙度、反光特性、摩擦学性能及表面质量等相关参数具有重要意义。共焦技术能够测量各种表面反射特性的材料并获得有效的测量数据。

VT6000共聚焦显微镜基于共聚焦显微技术，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，可以对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，实现器件表面形貌3D测量。在材料生产检测领域中能对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

应用

1.MEMS

微米和亚微米级部件的尺寸测量，各种工艺（显影，刻蚀，金属化，CVD， PVD，CMP等）后表面形貌观察，缺陷分析。

2.精密机械部件，电子器件

微米和亚微米级部件的尺寸测量，各种表面处理工艺，焊接工艺后的表面形 貌观察，缺陷分析，颗粒分析。

3.半导体/ LCD

各种工艺（显影，刻蚀，金属化，CVD，PVD，CMP等）后表面形貌观察， 缺陷分析 非接触型的线宽，台阶深度等测量。

4.摩擦学，腐蚀等表面工程

磨痕的体积测量，粗糙度测量，表面形貌，腐蚀以及亚微米表面工程后的表面形貌。

润滑油产业聚焦大会

所当乘者势也，不可失者时也

在全国疫情防控阻击战取得重大战略成果之际，全世界向ZG投来更多目光。“所当乘者势也，不可失者时也”。在全国两会召开之后，我国经济社会发展延续改善势头，主要指标呈现积极变化。复工复产成效显著；在此市场环境及机遇下，润滑油聚焦在10月22-24日苏州·同里湖度假村举办润滑油产业大会，邀请各位行业同仁见证润滑油行业的发展和前沿的技术分享。以专业角度，分享、讨论行业现状；复苏及洗牌阶段如何适应市场，以及困难之下所蕴藏的机遇。回顾近一年的行业动态，预测润滑油行业的未来发展趋势。

大会将以ZG国际润滑油产业发展高峰论坛；OEM品牌对接活动；金属加工液技术发展高峰论坛；润滑脂、齿轮油、加工液专项ZT培训；化工企业税收政策内部解读会；特邀润滑油经销商考察团活动；名优企业专场推介会；润滑油聚焦群友交流会；罗星州放生祈福仪式等一系列全方位的立体的活动，结合精品产能展示方式呈现。