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  FycoG8K1l6 2014-09-14 00:00:00

  这个你刷一下 有反应就好 没反应就坏了啊 毕竟卡里面 只有芯片和线圈 线圈是不会坏的

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  duweiji0 2017-07-06 00:00:00

  芯片好坏检测 级别I- 真实性检验（AIR） 概述： 通过化学腐蚀及物理显微观察等方法，来检验鉴定器件是否为原半导体厂商的器件。 级别II - 直流特性参数测试 （DCCT） 概述： 通过专用的IC测试机台来测量记录器件的直流特性参数，并比较分析器件的性能参数，又称静态度测试法。 级别III - 关键功能检测验证 （KFR） 概述： 根据原厂器件产品的说明或应用笔记（范例），或者终端客户的应用电路，评估设计出可行性专用测试电路，通过外围电路或端口，施加相应的有效激励（信号源）给输入PIN脚，再通过外围电路的调节控制、信号放大或转换匹配等，使用通用的测量仪器或指示形式，来检测验证器件的主要功能是否正常。 级别IV - 全部功能及特性参数测试 （FFCT） 概述： 根据原厂提供的测试向量或自己仿真编写（比较艰难的过程）的测试向量，使用IC测试机台来测试验证器件的直流特性参数、器件的所有功能或工作运行的状态，但不包括AC参数特性的验证分析。换句话说，完全囊括了级别II和级别III的测试项目。

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