X射线衍射现象的发现
利用X射线在晶体物质中的衍射效应来分析物质结构的技术，叫做X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）。每一种结晶物质都有包括点阵类型、晶面间距等参数的晶体结构，是其特定的。用具有足够能量的x射线对试样进行照射，激发试样中的物质，会使得二次荧光X射线（标识X射线）产生。布拉格定律为晶体的晶面反射所遵循。通过对衍射角位置（峰位）的测定能够进行化合物的定性分析，通过对谱线的积分强度（峰强度）的测定能够进行定量分析，而且对谱线强度的测定，随着角度的变化关系能够检测晶粒的大小和形状。
衍射现象的发现
劳埃等人在1912年按照理论预见，并且进行实验使X射线与晶体相遇时可以发生衍射现象得到了证实，使X射线具有电磁波的性质得到了证明，成为了X射线衍射学的di一个里程碑。当在晶体中入射一束单色X射线时，，因为晶体的组分是由原子规则排列成的晶胞，这些规则排列的原子间距离和入射X射线波长的数量级一致，所以通过不同原子散射的X射线互相干涉，，使得某些特殊方向上有较强的X射线衍射产生。晶体结构关系到衍射线在空间分布的方位和强度，X射线衍射的基本原理就是如此。能够用布拉格方程来对衍射线空间方位与晶体结构的关系进行表示：
2dsinθ=nλ式中：
n是整数；
d代表结晶面间隔；
θ是衍射角；
λ是X射线的波长。
能够利用已知的X射线衍射角来对波长λ加以测定，进而使结晶面间隔获得，也就是结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔对照已知的表，就能够对试样结晶的物质结构加以确定，如此就能够进行定性分析。从比较衍射X射线强度，就能够进行定量分析。
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