红外测厚仪

红外测厚仪对于水含量、涂布量、薄膜和热熔胶的厚度的意义非常的重要，目标信息传递的任务为其所担负着，对于水含量、涂布量、薄膜和热熔胶等厚度的检测的准确度有着直接的影响。

红外测厚仪测量原理：

薄膜类材料的厚度的非接触式测量通过红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应得以实现。

红外测厚仪结构

激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统为红外测厚仪的基本结构组件。激光束使一个亮的光斑在被测物体表面上形成，该光斑在成像物镜的作用下往光敏接收器的光敏上成像，使得探测其敏感面上光斑位置的电信号产生。当移动被测物体的时候，相对于成像物镜的位置，其表面上的光斑发生改变，在光敏器件上的位置上的相应的成像点也会发生变化。

红外测厚仪和X射线测厚仪的比较

X线探头是通过X线管通电使得X线产生作为信号源来对塑料薄膜的厚度进行检测，仅会对总材料成分的变化产生反应。X线探头有很多的优点：能够测量各种塑料；有较高的测量精度；有较广的测量范围；不需要使用许可证，没有放射性物质。和X射线测厚仪应当作为测量薄膜厚度的shou选仪器。X射线测厚仪能够在适用领域对其他类型探头进行替代，这样的趋势相当大。

红外探头是通过在特定的塑料薄膜中特定红外线波段被强烈吸收的原理来对薄膜的厚度进行测量，对于检测单一透明材料来说，该传感器比较稳定，周边环境变化不会对其产生影响。然而却对添加剂及颜色的变化敏感，不能够适应不同成分的产品及多种材料的产品在同一条生产线上生产。

红外测厚仪对于水含量、涂布量、薄膜和热熔胶的厚度的意义非常的重要，目标信息传递的任务为其所担负着，对于水含量、涂布量、薄膜和热熔胶等厚度的检测的准确度有着直接的影响。

红外测厚仪测量原理

红外测厚仪的测量原理为两个激光位移传感器的激光对射，在对射区域内放置被测体。红外测厚仪按照被测体上表面和下表面的距离，将被测体的厚度计算出来。

红外测厚仪作用

红外测厚仪能够使水含量、涂布量、薄膜和热熔胶厚度的在线检测得以实现，为精度较高的厚度测量设备，采用该测厚仪进行测量的时候，薄膜类材料的厚度的非接触式测量能够通过红外光穿透物质时的吸收、反射、散射等效应来实现。

红外测厚仪使工作环境得到了十分有效的改善，其具有能够准确测量，较高的精度，较好的实用性，可靠安全，没有辐射，非接触式测量等人工测量及其它测量方法不能够比的优点，并且将准确的信息提供给了涂胶池、造纸工序厚度控制，从而使生产效率和产品质量得到了提高，使劳动强度降低了。

红外测厚仪应用场景

在大型纸张生产企业，对红外测厚仪进行实用，能够在烘箱后放置该设备，能够对纸张的厚度进行准确的测量，能够对干纸张的水含量进行在线测量。并且利用自主研发的工控软件，通过图表的方式对操作员调节纸张厚度进行直观的指导。

红外测厚仪性能：

1、采样频率：75 赫兹

5、工作温度：0-50摄氏度

6、优势：对涂层厚度进行测量，没有辐射，没有必要进行安全认证，有较高的精度

1、精度：±0.01% (按照测量对象来定)

2、重复性：±0.01%(按照测量对象来定)

3、测量距离：150到300毫米

红外测厚仪对于水含量、涂布量、薄膜和热熔胶的厚度的意义非常的重要，目标信息传递的任务为其所担负着，对于水含量、涂布量、薄膜和热熔胶等厚度的检测的准确度有着直接的影响。

红外测厚仪测量注意事项:

1、在进行测量之前，应当需要留心周围其他的电器设备会不会有磁场产生，若会将会对磁性测厚法有所干扰

2、在进行测量时，应当留心不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，由于通常测厚仪试件表面形状的忽然变化相当敏感。

3、在进行测量时，为了不会对测量的读数产生影响，应当保持压力恒定

4、在进行测量时，要留心仪器测头要直接接触被测试件。

5、在进行测量时，需要留心标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当类似于试件。

6、在进行测量时，需要保持侧头垂直于试样表面

7、在进行测量时，需要对基体金属的临界厚度加以留心，若比这个厚度大，那么基体金属厚度就不会对测量产生影响。

8、在进行测量时，需要留心测量会受到试件的曲率的影响。所以在弯曲的试件表面上测量时是不可靠的。

红外测厚仪应用：

对水含量、涂布量、薄膜和热熔胶的厚度进行测量，在涂胶工序应用时，该设备能够在涂胶池后烘箱前放置，对涂胶的厚度进行在线测量。在造纸工序应用时，该设备能够在烘箱后放置，对干纸张的水含量进行在线测量。