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                        C8000-30使用滨松公司制造的超高灵敏度背照式CCD，在紫外、可见光和近红外波段具有极高的量子效率。其在120nm处的高紫外灵敏度对半导体掩膜检测以及测量等应用十分有利。此外，近红外波段的高灵敏度可用于荧光测量、近红外激光二极管测量等等。