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上海长方光学仪器有限公司

半导体曲线测试仪CS5100,cs3000,cs10000

来源:内容来源于网络 浏览量:1817次
【导读】半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列 (符合 UL 规格)功能观察I-V曲线以及电压和电流的应用波形电流和电压脉冲在高电流模式下的应用                     ...

半导体特性曲线图示仪 CS-3000系列 (符合 UL 规格)功能

观察I-V曲线以及电压和电流的应用波形



电流和电压脉冲在高电流模式下的应用

屏幕截图屏幕截图 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

屏幕截图

应用电流和电压的脉冲宽度以及测量点额定可设定为50 - 400 μs之间(CS-3200和CS-3300)。

屏幕截图

MOSFET“电流”和“电压”特性测量示例

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可选择“扫描类别”(SWEEP TYPE)

“扫描类别”包括“下”(DOWN)、“上”(UP)和“定制”(CUSTOM)(所有模式)。
如指定“定制”模式,可以扫描指定值之间的范围。

屏幕截图

CS-800半导体参数搜索(可选)

该主控装置软件选项支持电压和电流限制功能,以及自动Vth测量功能。

屏幕截图■限制扫描(LIMIT SWEEP)
如果在“扫描”操作前指定了电压和电流限值,操作会在超过限值后的下一个测量点停止执行。

屏幕截图■Vth和hFE设置
Vth和hFE可以自动测量。Vth自动测量示例。 

2004-07-06 08:51:51
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