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最新更新：2021-07-19 11:46:34

方块电阻测试仪 wi125450

来源：内容来源于网络浏览量：202次

【导读】方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等...

方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。◆特点：

采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；

以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；

采用单个电池供电，带电池欠压指示；

体积≤175mmX90mmX42mm，重量≤300g；

特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

探头带抗静电模块◆技术指标：

测量范围

按方块电阻量值大小分为二个量程档：
1.方块电阻1.00～199.99Ω/□；
2.方块电阻10.0～1999.9Ω/□；
Z小分辨率：0.01Ω/□

恒流源

测量过程误差：≤±0.8%

模数转换器

量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕显示；极性，超量程均自动显示；小数点同步显示；

测量不确定度

在整个量程范围内，测量不确定度≤5%

四探针探头规格

间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

电源

9V叠层电池1节◆方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格：

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直线

HP-502

0.75mm

100g

3.8mm

直线

HP-503

0.1mm

150g

1mm

直线

HP-504

0.5mm

100g

1.59mm

直线

◆方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格：

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

SP-601

0.5mm

100g

1.59mm

方形

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2004-11-03 09:23:08

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