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上海长方光学仪器有限公司

TH2828系列LCR数字数字电桥与安捷伦4284A测试对比

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【导读】 TH2828系列LCR数字数字电桥与安捷伦4284A测试对比TH2828系列LCR数字数字电桥与安捷伦4284A测试对比TH2828系列LCR数字数字电桥与安捷伦4284A测试对比

TH2828系列LCR数字数字电桥和Agilent 4284A测试比较​​
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TH2828 / TH2828A / TH2828S 是采用当前国际上先进的自动平衡桥的先进原理成功开发的新模型。的阻抗测试仪器,基本精度为0.05%,频率范围为20Hz-1MHz,阻抗测试范围高达100MΩ,可以满足组件和材料的所有测量要求,特别适用于测量低D电容器和高Q电感器。它支持20V AC测试信号和40V DC偏置和列表扫描功能的大功率测试条件,将帮助用户扩展其元件评估功能。四端子对端口配置可以有效消除测试线电磁耦合的影响,并且与常规的五端子配置仪器相比,低阻抗测试功能的下限向下扩展了十倍。

TH2828 / TH2828A / TH2828S 1MHz 通辉精密LCR数字电桥:广泛的测量对象:

无源元件:电容器,电感器,磁性阻抗参数对铁芯,电阻器,压电器件,变压器,芯片组件和网络组件的评估和性能分析。半导体组件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析其他组件:印刷电路板,继电器,开关,电缆,电池等的阻抗评估。介电材料:塑料,陶瓷和其他材料的介电常数介电常数和损耗角评估磁性材料:磁导率和介电常数铁氧体,非晶态和其他磁性材料的损耗角评估半导体材料:半导体材料的介电常数,电导率和CV特性液晶材料:液晶单元的介电常数,弹性常数和其他CV特性

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TH2828 / TH2828A / TH2828S 是新一代阻抗测试仪是使用当前国际先进的自动平衡桥原理成功开发的,基本精度为0.05%,频率范围为20Hz-1MHz,阻抗高达100MΩ。 e测量元件和材料的要求,特别有利于测量低D电容器和高Q电感器。它支持20V AC测试信号和40V DC偏置和列表扫描功能的大功率测试条件,将帮助用户扩展其元件评估功能。四端子对端口配置可以有效消除测试线电磁耦合的影响,并且与常规的五端子配置仪器相比,低阻抗测试功能的下限向下扩展了十倍。 TH2828 / TH2828A / TH2828S是用于电子元件设计,检查,质量控制和生产测试的强大工具。其出色的性能和功能为电路的设计和开发以及材料(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强大的工具。 TH2828 / TH2828A / TH2828S具有出色的性能,可以满足商业标准和军事标准(例如IEC和MIL标准)的各种测试。


TH2828 / TH2828A / TH2828S 是使用国际上先进的自动平衡电桥原理成功开发的新一代阻抗测试仪,其基本精度为0.05%,频率范围为20Hz-1MHz高达100MΩ的阻抗测试范围可以满足所有组件和材料的测量要求,特别有利于低D电容器和高Q电感器的测量。它支持20V AC测试信号和40V DC偏置和列表扫描功能的大功率测试条件,将帮助用户扩展其元件评估功能。四端子对端口配置可以有效消除测试线电磁耦合的影响,并且与常规的五端子配置仪器相比,低阻抗测试功能的下限向下扩展了十倍。
TH2828 / TH2828A / TH2828S 1MHz 相同慧精密LCR数字电桥:广泛的测量对象:
无源元件:电容器,电感器,磁芯,电阻器,压电器件,变压器,芯片组件和阻抗参数评估半导体组件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析其他组件:印刷电路板,继电器,开关,电缆,电池等的阻抗评估。介电材料:塑料,陶瓷和其他材料的介电常数介电常数和损耗角评估磁性材料:磁导率和介电常数铁氧体,非晶态和其他磁性材料的损耗角评估半导体材料:半导体材料的介电常数,电导率和CV特性液晶材料:液晶单元的介电常数
< div> TH2828 / TH2828A / TH2828S 由世界上ZX进的自动平衡桥原理开发的新一代阻抗测试仪。其基本精度为0.05%,频率范围为20Hz-1MHz,阻抗测试范围高达100MΩ,可以满足组件和材料的所有测量要求,尤其有利于测量低D电容器和高Q电感器。它支持20V AC测试信号和40V DC偏置和列表扫描功能的大功率测试条件,将帮助用户扩展其元件评估功能。四端子对端口配置可以有效消除测试线电磁耦合的影响,并且与常规的五端子配置仪器相比,低阻抗测试功能的下限向下扩展了十倍。 TH2828 / TH2828A / TH2828S是用于电子元件设计,检查,质量控制和生产测试的强大工具。其出色的性能和功能为电路的设计和开发以及材料(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强大的工具。 TH2828 / TH2828A / TH2828S具有出色的性能,可以满足商业标准和军事标准(例如IEC和MIL标准)的各种测试。




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2006-09-14 08:08:17
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