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上海长方光学仪器有限公司

四探针电阻率测试仪检测条件

来源:内容来源于网络 浏览量:720次
【导读】  四探针电阻率测试仪检测条件  本规程适用于新生产、使用中和修理后的接触式测量范围在0.001~103Ω·cm的电阻率测试仪的检定。对某些多功能的测试或只能测方块电阻的测试仪也同...

  四探针电阻率测试仪检测条件

  本规程适用于新生产、使用中和修理后的接触式测量范围在0.001~103Ω·cm的电阻率测试仪的检定。对某些多功能的测试或只能测方块电阻的测试仪也同样适用,方块电阻的测量范围在0.01~104Ω/□。本规程不适用于二探针、三探针和六探针以及方形探头电阻率测试仪。

  四探针电阻率测试仪概述

  四探针电阻率测试仪是用来测量半导体材料及工艺硅片的电阻率,或扩散层及外延层方块电阻的测量仪器。它主要由电气部分和探头部分组成,电气部分一般包括稳流源、数字电压表或电位差计、换向开关等仪器。探头部分一般包括探针架、探针头和样品台。

  1-稳流源;2-换向开关;3-标准电阻;4-探针接线;5-无热电势开关;6-数字电压表;7-被测样品

  1-微型计算机部分;2-电气箱部分;3-手动升降机构、探针架、探针头及样品台部分

  四探针电阻率测试仪检定环境条件

  四探针电阻率测试仪应在恒温专用清洁室内进行,检定具体要求见表3。检定前,仪器和所用的标准仪器设备应在恒温室内旋转12h以上。

  *在检定过程中发现有静电感应或泄漏电流的现象,则应采取相应的屏蔽或接地措施消除。


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2004-08-12 09:23:07
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