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上海长方光学仪器有限公司

堆积密度测定装置, 粉体颗粒特性测定仪

来源:内容来源于网络 浏览量:1021次
【导读】堆积密度测定装置,粉体颗粒特性测定仪 SCI-2分子筛堆积密度测定仪本仪器依据GB-T 6286-1986 分子筛堆积密度测定方法要求设计本标准适用于粒状分子筛松装密度和振实密度的...

堆积密度测定装置,粉体颗粒特性测定仪

 

SCI-2分子筛堆积密度测定仪
本仪器依据GB-T 6286-1986 分子筛堆积密度测定方法要求设计
本标准适用于粒状分子筛松装密度和振实密度的测定。
具体参数:
1. 振幅1~3mm
2. 频率100-200次/min
3. 量筒规格:100ML/300ML各一个
4. 计算器:0-9999可预设定。
5. 加料速度:3-5ML/S
6. 加料槽规格:85*45*20mm
7. 测定容器材质:不锈钢
8. 机箱材质:钣金烤漆
9. 电源:220V/50HZ
配件:容器:3个
      电源线:1条
      毛刷:一把

 


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2004-08-12 09:23:07
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