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- 【导读】摘要XOS软件旨在对样品的基体效应做出准确响应。然而,和任何分析技术一样,总有一些样品对XRF来说具有特别的挑战性,一般是由于材料的密度和/或元素的组成。本文件讨论了光谱干扰的一般...
摘要
XOS软件旨在对样品的基体效应做出准确响应。然而,和任何分析技术一样,总有一些样品对XRF来说具有特别的挑战性,一般是由于材料的密度和/或元素的组成。本文件讨论了光谱干扰的一般成因,对涉及到检测和定量测量各种均匀样品基体中铅(Pb)含量时所碰到的常见问题做出了回答
是什么原因导致铅的测量浓度偏高和检测限(LOD)的增加?
元素干扰可能会导致铅的测量结果偏高,这是由于激发能出现了重叠问题。这种重叠有可能由以下三种情况中的一种或多种引起:
■发射谱线直接重合:例如,砷(As)的Ka发射能为10.54keV,而Pb的La发射能几乎一样,是10.55keV。任何和Pb发射能接近的元素都有可能造成铅的测试值偏高。具体请参见第二页周期表中列出的特征发射值。
■叠加峰与发射谱线相重合:当检测器将两个或者更多的光子作为一个光子进行计数时,就会出现叠加峰。叠加峰对基体中具有高强度X发射谱线的主要元素的影响特别明显。叠加峰可能会和其他元素的发射谱线重合,比如铁(Fe)叠加峰的数值(12.8keV))就和铅的L(12.61keV)发射谱线出现了重合。
■在特定条件下的发射谱线干扰:有些发射谱线的干扰只有在某种元素的浓度特别高时才会发生。主要元素的能量分布值过高,会小幅提高相邻元素的检出限。
在塑料基底中是否有内在的铅干扰因素?
聚合物内没有内在的干扰因素,因为其大部分的组成成分是有机的,而XRF检测对有机部分没有响应。聚合物的基底干扰可能来自于基底中的其他元素,这些元素的特性已经在上一节中做了说明。通常,聚合物基底中Pb的主要干扰因素是高浓度的溴(Br)或铋(Bi),如图1所示。
在金属基底中是否有内在的铅干扰因素?
含有As的Fe样品会增加Pb的LOD,并可能导致测量结果出现错误,因为Fe的叠加峰的存在,还有As的发射谱线出现了直接重合,如图2所示。如果Fe基底选用的是含有大量铬(Cr)的不锈钢,那么会进一步提高铅的LOD,这是因为由于Cr也有叠加峰,还有As的K发射谱线和Fe的重合了。
XOS检测仪,产品主要用于石油、工业和市政废水以及土壤中的重金属检测,包括硫,铅,砷,镉,锌等多达几十种元素,无论是单一元素还是多元素检测,客户只需一键操作就能获得无与伦比的精确测量结果,分析快速。分析仪无需试剂和化学消耗品以及样品预处理,方便快捷。
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- 2004-08-20 09:23:03
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