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二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
- 品牌:伟业计量
- 货号: GBW13970
- 产地:北京 朝阳区
- 供应商报价:面议
- 北京北方伟业计量技术研究院 更新时间:2022-04-02 15:02:30
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基本信息 产品编号 GBW13970 中文名称 二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
英文名称 CRMs for Thickness of SiO2 Nanosized Thin Layers
形态 固态 存储条件 贮存在阴凉干燥的室温环境条件下。 用途 物理学与物理化学/光学特性 注意事项 运输过程中必须保持包装的完整。 量值信息 组分 标准值 不确定度 单位 二氧化硅纳米薄膜厚度 45.61 0.35 nm