-
-
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪
- 品牌:德国菲希尔
- 型号: X-RAY XAN 215
- 产地:
- 供应商报价:面议
- 北京华仪通泰环保科技有限公司 更新时间:2024-09-26 10:50:32
-
销售范围售全国
入驻年限第4年
营业执照已审核
- 同类产品涂层测厚仪(103件)
立即扫码咨询
联系方式:400-901-1718
联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!
-
为您推荐
详细介绍
- 仪器详情
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度,通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品简介:
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款颇具性价比的入门级能量色散型X射线荧光材料分析及镀层测厚仪,通常用于对珠宝、钱币和贵金属等进行无损分析。
它特别适合分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度,从元素氯(17)到铀(92),多时可同时测定24种元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样,本款仪器有着初设的准确性以及长期的稳定性,这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。
先进的Si-PIN的完全基本参数法,可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品应用:
典型的应用领域有:
珠宝、贵金属和牙科用合金分析
黄金制品和K金制品分析
铂金制品和银制品分析
铑制品分析
其他合金分析和镀层厚度测量
多镀层厚度测量
我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑,如技术参数中英文有差异,以英文参数为准。
德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪:
通用规格
设计用途
采用能量色散型X射线荧光光谱法(EDXRF),
用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度
元素范围
从元素氯(17)到铀(92),多时可同时测定24种元素。
重复性
测量金元素时≤1‰,测量时间60秒
形式设计
台式仪器,测量门向上开启
测量方向
由下往上
X射线源
X射线管
带铍窗口的钨靶射线管
高压
三档:30KV,40KV,50KV
孔径(准直器)
φ1mm;可选φ2mm
测量点尺寸
当测量距离MD=0mm时,测量点直径=孔径直径+200μm
X射线探测
X射线探测器
采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器
能量分辨率
(Mn元素Kα半高宽)
≤180eV
测量距离
0...10mm
通过受专有保护的DCM测量距离补偿法,可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量;对于特殊的应用或者对测量精度要求较高的测量,可能需要进行额外的校准。
样品定位
样品放置
手动
视频系统
高分辨率CCD彩色摄像头,可沿着初级X射线光束方向,手动焦距,对被测位置进行监控
十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸),可调节亮度的LED照明
图像发达倍数
40x~160x
工作台
形式设计
固定工作台
样品放置可用区域
310x320mm
样品较大重量
13KG
样品较高高度
90mm
电气参数
电源要求
AC 220V 50Hz
功耗
较大120W(不包括计算机)
保护等级
IP40
尺寸规格
外部尺寸(宽x深x高)
403x588x365mm
重量
大约45KG
环境要求
使用时温度
10℃~40℃
存储或运输时温度
0℃~50℃
空气相对湿度
≤95%,无结露
计算单元
计算机
Windows®-PC
软件
标准:Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能
可选:Fischer WinFTM®
执行标准
CE合格标准
EN 61010
X射线标准
DIN ISO 3497 和ASTM B 568
形式批准
作为受完全保护的仪器
符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定
您可能感兴趣的产品
- 德国FISCHER X-RAY XAN 215入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪
- 德国FISCHER XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪
- 德国FISCHER X-RAY XUL 220 X射线荧光镀层测厚仪及材料分析仪
- 德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
- 德国FISCHER XDLM 237 X射线荧光镀层测厚材料分析仪
- 德国Fischer涂镀层测厚仪 MPOR
- COMPACT Eco X射线荧光镀层测厚仪
- MAXXI 5 X射线荧光镀层测厚仪
- MAXXI Eco X射线荧光镀层测厚仪
- 日立X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
- 德国Roentgenanalytik-X射线镀层测厚仪
- 德国布鲁克 X射线镀层测厚仪M1 ORA