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S-MRS系列漫反射率测试系统
- 品牌:上海波铭
- 型号: S-MRS
- 产地:上海 浦东新区
- 供应商报价:面议
- 上海波铭科学仪器有限公司 更新时间:2024-09-04 10:24:52
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销售范围售全国
入驻年限第4年
营业执照已审核
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产品特点
- • 光谱测量范围:350-2500nm ;光谱分辨率:2nm以下;光谱扫描步距:0.2-100nm可连续设置
• 波长准确度:优于±0.2nm(紫外-可见区),优于±0.5nm;(近红外区)
• 光度测量准确度:1%以内(紫外-可见区),2%以内;(近红外区)
• 光度测量重复性:1% (450nm-1800nm) ;测试试样尺寸(典型):直径大于15mm,若同时测试透过率,则样品厚度必须小于5mm 详细介绍
• 光谱测量范围:350-2500nm ;光谱分辨率:2nm以下;光谱扫描步距:0.2-100nm可连续设置
• 波长准确度:优于±0.2nm(紫外-可见区),优于±0.5nm;(近红外区)
• 光度测量准确度:1%以内(紫外-可见区),2%以内;(近红外区)
• 光度测量重复性:1% (450nm-1800nm) ;测试试样尺寸(典型):直径大于15mm,若同时测试透过率,则样品厚度必须小于5mm