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U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用扫描迁移率粒度仪
- 品牌:德国PALAS
- 型号: U-SMPS
- 产地:德国
- 供应商报价: 面议
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理加联合科技有限公司
更新时间:2024-08-09 13:37:57
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企业性质生产商
入驻年限第4年
营业执照已审核
- 同类产品气体颗粒物监测及采样(7件)
联系方式:理加联合010-51292601
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- 详细介绍
集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪
适用于8 ‒ 1200 nm的各种应用
图1:U-SMPS 2050X / 2100X / 2200X
Palas® 通用扫描迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本。长分类柱(2050X / 2100X / 2200X 型号)可以确定 8 至 1200 nm 的粒径分布。该系列已经集成了 X 射线源作为中和器(参见图 1),代替放射性中和器(例如使用 Kr-85),优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。Palas®U-SMPS 系统包括一个分类器 [ 在 ISO15900 中定义为电迁移率分级器(DEMC),也称为微分迁移率分析仪(DMA)],可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。然后通过冷凝颗粒计数器(例如 UF-CPC)对这些颗粒进行计数。三种可用的 UF-CPC 型号可在各种浓度范围内实现ZJ的单颗粒计数。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授(IfTLeipzig,德国)开发的演算算法,将测量数据转化为 U-SMPS 的颗粒分布。U-SMPS 使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短 30 秒之内执行,并且每十进制多达 64 个尺寸通道。在扫描期间,DEMC 分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估(各种统计和平均值),以及导出功能。U-SMPS 通常作为独立设备运行,但也可以连接到计算机或使用各种接口(USB, LAN,WLAN,RS-232 / 485)连接网络。 Palas®U-SMPS 支持 DMA,CPC 和其他制造商的气溶胶静电计。 U-SMPS 对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要,尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试,并且必须内部组装。 图 2 给出了U-SMPS 的工作原理:气溶胶在进入分类器(DEMC)之前先经过调节。 选配的干燥器(例如硅胶,Nafion)可以去除颗粒中的水分。 双极中和剂(XRC 049)用于确保气溶胶电荷分布符合预定。 在 DEMC 的入口处需要一个撞击器以去除大于分类器尺寸范围的颗粒。
图 2:扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)的工作原理。气溶胶通过 DEMC 柱的进样口导入,沿着外部电极与鞘气合并。合并过程要避免湍流,确保层流。电极的表面必须极其光滑和JZ。该鞘气是干燥的、无颗粒的载气(通常为空气),比气溶胶的体积大,且在闭环中连续循环。鞘气与样品空气的体积比决定了传递效率,从而决定尺寸分类器的分辨率。在内部和外部电极之间施加电压产生径向对称电场。内电极带正电,末端有一个小缝隙。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力,带负电颗粒转移到正电极。根据它们的电迁移率,一些颗粒会通过顶部小缝隙离开 DEMC。在操作中,电压产生的电场持续变化,使得不同迁移率的颗粒离开 DEMC,并由纳米粒子计数器(例如冷凝粒子计数器)连续测量计数(例如 Palas®UF-CPC)。方便实用的软件提供多数据信息(如电压,粒子数等)并取得粒度分布数据,如图 3 所示。
图 3:Palas®DNP3000 颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布。基于客户反馈优化过的用户界面和软件可以进行直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。 此外,通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络连接,该软件可以实现数据管理功能。 测量数据有多种形式显示和评估。 可用的系统:下面的文档介绍了 DEMC 和 Palas® 提供的计数器的各种组合。其他制造商提供的大多数 DMA,CPC和气溶胶静电计都可以用作 U-SMPS 系统的组件。
优点:
粒径分布范围为 8nm 至 1.2μm
连续快速扫描测量原理
高分辨率,最多 128 个尺寸通道 / 十进制适用于ZG 108 颗粒 / cm3 的浓度
跟其他制造商的 DMA 和纳米颗粒计数器通用图形显示测量结果
7 英寸触摸屏和 GUI 直观操作内置数据记录仪
支持多种接口和远程访问
低维护
功能可靠
减少您的运营费用
应用领域:
过滤测试
气溶胶研究
环境与气候研究吸入实验
室内和工作场所测量
生产厂家:德国Palas
- 产品优势
- 集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪适用于8 ‒ 1200 nm的各种应用
- 解决方案
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