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日本理学 XRD SmartLab智能 X 射线多晶衍射仪
- 品牌:日本理学
- 型号: XRDSmartLabX
- 产地:日本
- 供应商报价: 面议
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深圳市科时达电子科技有限公司
更新时间:2024-08-15 07:13:30
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企业性质一般经销商
入驻年限第3年
营业执照已审核
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联系方式:林建军0755-29852340
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- 详细介绍
日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab
本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 主要特点智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 技术参数:
• 1、X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶
• 2、测角仪为水平测角仪
• 3、测角仪最小步进为 1/10000 度,精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学ZL)
• 4、测角仪配程序式可变狭缝
• 5、自动识别所有光学组件、样品台(理学ZL)
• 6、CBO 交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带 Mirror)(理学ZL)
• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
• 8、多用途薄膜测试组件
• 9、微区测试组件、CBO-F 微区光学组件
• 10、In-Plane 测试组件(理学独有)
• 11、入射端 Ka1 光学组件
• 12、高速探测器 D/teX-Ultra(能量分辨率 20%以下)
• 13、二维面探 PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射 X 射线)
• 14、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance(ZL)
主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld 定量分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane 装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
- 产品优势
- 日本理学 XRD SmartLab智能 X 射线多晶衍射仪 ,是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪,它采用了理学的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。
仪器分类: | 单晶 |