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泰克图示仪TEK370B晶体管测试仪

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详细介绍

泰克图示仪TEK370B晶体管测试仪

 

 

 

主要参数:·半导体器件高精度测量 JIANG
-上限达2000V或电流到10A的源(370A)
-上限到3000V(371A)
-上限到220W(370A)
-上限到400A(371A)
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W(371A)
·上限到2mV的测量分辨率(370A)
·波形对比
·包络显示
·波形平均
·点光标(370A)
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘,方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程控
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式,调整和存储操作参数,包括370A的非
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
测试夹具是标准附件,它提供被测器件安全防护,以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001,中间通过Kelvin传
感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
370A程控特性曲线图示仪
370A是名的高分辨率特性曲线图示仪,可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管
、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室,用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
在制造过程中,用370A检验器件质量及过程监视。
370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。
技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露,±整流的正弦波 范围 峰值电流(±) 峰值电流(脉冲式)(±) 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05 A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯:DC,80μS脉冲,300μS脉冲 阶梯量程-   电流: 50nA到200mA,按1-2-5顺序 电压: 50mV到2V,按1-2-5顺序 偏置 到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流-   测试量程: 100nA/p(1nA分辨率)至2A/p误差,1.5%光标读出+0.05p设定值(点光标) 发射极电流-   测试量程: 1nA/p(10pA分辨率)至2mA/p 误差 1.5%光标读出+0.05p设定值+1nA 安全标准 UL1244,CSA231,HD401S1 



产品优势
泰克图示仪TEK370B晶体管测试仪
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