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日立手持土壤光谱仪,日立便携土壤分析仪,日立手持重金属分析仪,日立手持光谱仪

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日立手持土壤光谱仪,日立便携土壤分析仪,日立手持重金属分析仪,日立手持光谱仪 核心参数
重复性 0.01% 分析元素 Mg-U
检出限 1ppm 分辨率 135eV

产品特点

优秀的性能
X-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。

通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。

操作简单
大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。

符合人体工学
X-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度低。

坚固耐用而拥有成本低
符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。

通过MIL-STD-810G耐用标准测试。3年保修。

其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。

详细介绍

土壤污染逐渐由工业流程(如采矿和制造)、农业(使用肥料和杀虫剂)或废物处理(如错误地进行垃圾填埋)等人类活动造成。

暴露在某些污染物中如铅和镉等元素对人体健康有害,许多国家已经制定了相关法规和方案,以识别污染区域并管理修复过程(补救)。

例如,作为美国废物管理计划的一部分,美国环保局引入了6200标准,通过现场便携式/手持式X射线荧光(XRF)光谱法,确定土壤和沉积物中的关键元素。

操作者可以使用HHXRF,快速在现场筛选重金属和其他污染物。这使他们能够极大减少送到场外实验室进行分析的样本数量,并降低了分析成本和完成测试程序所需的时间。通过孤立问题区域和在现场确定补救边界,操作者可最大限度地减少土壤处理和处置成本。


为何选择X-MET8000 Expert Geo?

  • 优秀的性能:利用我们革命性的BOOST™技术和大面积硅漂移探测器,满足当今和未来的检测要求。它们提供了相当于其他HHXRF型号10倍的灵敏度,为测量土壤、污泥和沉积物中关键元素(例如美国EPA 6200方法RCRA和优先元素)提供所需的低检测限制

  • 快速分析:快速完成调查

  • 优秀的稳定性:无论天气如何,您都可以信赖结果。

  • 因牢固耐用而降低拥有成本,并使停工时间缩至最短

  • 易于使用:几乎不需要用户培训

  • 嵌入式GPS:将地理坐标与测试结果相结合,实现好的站点映射。

  • 强大的数据管理功能:随时随地通过蓝牙打印机打印结果,并将其附在样本袋上,以避免混淆;将其导出到U盘,或使用我们的应用程序和云服务随时随地实时管理结果


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