布鲁克原位纳米力学 Hysitron PI系列

     The Hysitron PI 89 扫描电镜联用纳米压痕仪利用扫描电子显微镜（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同时进行定量纳米力学测试。这套全新系统搭载 Bruker 的电容传感技术，继承了市场的商业化原位 SEM 纳米力学平台的优良功能。该系统可实现包括纳米压痕、拉伸、微柱压缩、微球压缩、悬臂弯曲、断裂、疲劳、动态测试和力学性能成像等功能。

      Hysitron PI 85E扫描电镜用纳米压痕仪扩展了原位力学测试的范围，弥补了纳米级和微米级表征之间的差距。这台深度传感纳米力学测试系统专门设计，利用扫描电子显微镜（SEM、FIB/SEM、PFIB）的先进成像能力，同时进行定量纳米力学测试。设备扩展的加载范围使研究人员能够准确测试尺寸较大或坚硬的结构。这些结构需要更大的载荷才能引起失效或断裂。PI 85E纳米压痕仪提供大量材料（从金属和合金到陶瓷、复合材料和半导体材料）的压痕、压缩、拉伸和疲劳测试。PI85E紧凑、低轮廓的架构使其非常适合小腔室SEM、拉曼和光学显微镜、光束线等。

    Hysitron IntraSpect 360 采用压电称重传感器，结合三板电容式传感器技术。这种安排可显著增加可用位移范围，同时保持超低噪声底。这种设计产生的热量非常小，在接触样品时可提供的稳定性。在计算机断层扫描研究 （μCT） 的成像过程中，这一点非常重要，因为数据采集时间可能很长。测试长达 168 小时，与布鲁克的参考频率校正技术相结合，已可靠地执行。该系统还包括布鲁克的"执行"高级控制模块和TriboScan软件，用于精确、反馈控制的纳米机械测试和自动数据分析。