HORIBA ICP OES Ultima Expert 电感耦合等离子体发射光谱仪

高分辨率，高灵敏度和高稳定性的电感耦合等离子体发射光谱仪

HORIBA科学仪器部拥有超过35年的高性能ICP-OES开发及生产历史。

新款Ultima Expert拥有卓越的性能，结合各种辅助工具，可以简化及优化分析方法。

Ultima Expert整合了Jobin Yvon高性能光学系统的优势，在分析各类样品和基体时均具有不凡的表现。

Ultima Expert由强大的分析软件驱动，具有大量的分析功能，可以进行一些定制化的控制和分析。

高稳健性使Ultima Expert可以轻松地应用于：矿物、化学制造、高盐、润滑油（磨损金属）、石化、冶金制造及贵金属提炼等分析。

Ultima Expert能够满足您的所有应用需求！

高分辨率、高灵敏度、高稳定性ICP-OES

• Ultima Expert 是目前市场上性能优良的ICP-OES，除了可用于常规样品分析，还特别适用于高难样品的分析

• 采用了高刻线全息光栅、1m焦距的高质量光学设计、特色的全等离子观测，可提供高分辨率。即便面对一些富有挑战性的样品，依然具有高灵敏度及高稳定性

• 采用侧向观测、全等离子观测的方式，可提供低检测下限

• 采用特色的护套气装置，对于高固含量样品具有高稳定性，能够直接分析浓度30%样品

• 在120~800nm范围内提供恒定分辨率，加配远紫外装置，能够提高卤素元素的灵敏度

• 高光学分辨率可降低光谱干扰，在120~320nm内，分辨率< 5pm

• 对于一些谱线比较复杂的应用，例如稀土、地质及贵重金属样品，可选择双光栅配件，在120~450nm内，分辨率< 6pm

• 采用特有的高稳定装置，即使是一些特殊应用，也能拥有好的稳定性

• HDD®检测，在一次分析中提供亚ppb到常量的分析

• 使用Image，动态范围高达10个数量级

• 选配的0.5m或1m多道，可进行同时式分析

Image 导航软件

• Image 导航软件由于能够采集全谱，所以可进行半定量分析

• 可在全谱范围内呈现多条谱线

• 通过多条谱线叠加查看，进行比较分析

• 自动进行定性、半定量分析

Master 软件，优化谱线筛选

• Master软件可以优化方法建立，在提供每个元素的浓度范围以及基体的情况下，可自动筛选出合适的谱线。S3-base数据库由采集到的ICP实际光谱所建立，而Master集合S3-base，内含了50000条以上谱线。

• 自动谱线筛选

• 合成谱线呈现

• 按照灵敏度、动态范围及干扰情况调整谱线筛选 

 S3-base viewer

• S3-base viewer 显示整个S3-base 数据库，帮助识别未知样品的发射线

• 提供完整的S3-base数据库

• 显示分析物的波长及其相对强度和检测限

• 显示选定波长附近的潜在发射线列表，包括等离子体固有发射线，以及它们的相对强度和检测限。

• 图形显示被分析物的发射线和潜在的发射线，便于识别