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理学 XRD Smart Lab SE 多功能X射线衍射仪
- 品牌:日本理学
- 型号: SmartLab SE
- 产地:日本
- 供应商报价: ¥ 1700000
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上海爱仪通网络科技有限公司
更新时间:2024-07-17 14:29:58
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企业性质授权代理商
入驻年限第3年
营业执照已审核
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- 理学 XRD Smart Lab SE 多功能X射线衍射仪 核心参数
- 详细介绍
仪器介绍:
全新智能X射线衍射仪SmartLab SE系列,是当今世界高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Studio II,一台仪器可以智能进行粉末测试、定量分析、晶粒尺寸、结晶度。
技术参数:
1、X射线发生器功率为3KW
2、测角仪为水平测角仪
3、测角仪zui小步进为1/10000度,高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)
4、测角仪配程序式可变狭缝
5、自动识别所有光学组件、样品台
6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)
7、小角散射测试组件(SAXS)
8、多用途薄膜测试组件
9、高速一维探测器
10、二维探测器,可以在零维、一维或二维模式间无缝切换
11、全新的SmartLab Studio II 提供了模块化的衍射功能组件12、自对准光学器件可延长仪器正常运行时间并降低购置成本
主要特点:
智能多功能X射线衍射仪SmartLab SE ,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. 小角散射与纳米材料粒径分布
7. 微区样品的分析- 技术资料
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仪器分类: | 粉末 |
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