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TC Wafer热电偶晶圆测温系统 晶圆硅片测温热电偶 光刻机晶圆温度测量系统
- 品牌:上海智测电子
- 型号: TC-Wafer
- 产地:徐汇区
- 供应商报价: 面议
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上海智与懋检测仪器设备有限公司
更新时间:2024-07-09 14:18:30
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企业性质生产商
入驻年限第7年
营业执照已审核
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TC Wafer热电偶晶圆测温系统 晶圆硅片测温热电偶 光刻机晶圆温度测量系统
引言
半导体行业的高速发展使得晶圆制造过程的温度控制变得至关重要。温度变化可能会对晶圆的性能、质量和产量产生直接影响。为了实现更精确的温度监测和控制,TC Wafer热电偶晶圆测温系统应运而生。
TC为热电偶的简称, TC Wafer是直接镶嵌于晶圆表面的温度传感器,可以实现晶圆表面温度的实时测量。借助于放置在晶圆表面特定位置之温度传感器,可获得这些特定位置的真实温度测量值以及整天晶圆温度分布。
产品介绍
TC Wafer热电偶晶圆测温系统是将高精度温度传感器镶嵌在晶圆表面,对晶圆表面的温度进行实时测量。通过晶圆的测温点了解特定位置晶圆的真实温度,以及晶圆整体的温度分布,同还可以监控半导体设备控温过程中晶圆发生的温度变化,获得升温、降温以及恒温过程期间的温度温度数据,从而了解半导体设备的温度均匀度。
产品优势
高精度:由于其直接嵌入在晶圆表面,可以实现对晶圆温度的实时、精确监测。
可靠性:传感器材料稳定,适应长期运行,不易受到外界干扰。
高灵敏度:微小的温度变化也能被传感器准确地捕捉,确保制程的稳定性。
即时性:传感器的实时性能使得生产线上的温度调整能够迅速响应,减少生产过程中的温度波动。
TC Wafer热电偶晶圆测温系统 晶圆硅片测温热电偶 光刻机晶圆温度测量系统
测量方式: | 接触式 | 电子元件: | 热电偶 |