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长春海洋光电 标准薄膜生长厚度控制仪

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薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 通用型薄膜生长厚度控制器 | 薄膜生长厚度控制仪

在前沿薄膜技术的设计和制造方面,我们开发了一个新的薄膜厚度控制器,控制器的内部封装了一个超高分辨的沉积控制系统。拥有综合显示,直观的GUI和坚实的架构,Eon-ID 是这个种类仪器的**产品,提供无所不包的设计;毫无疑问,Eon-ID薄膜生长厚度控制器拥有超高分辨沉积控制系统,综合数据触摸屏显示,直观的图形用户界面;提供多种多样的设计和设置,精密的温度监测和源控制,适合各种各样的设置,其范围从工业到实验室,从净化间到多种研究环境。Eon-ID呈现一体化的解决方案,这可能是你所需要的zui后一个薄膜石英监测控制器。
 
特点:
● 综合触摸屏显示,过程编程与监控,比使用智能手机还简单。
● 通信:RS-232,USB和WiFi。
● 机架式安装(每个插槽可安装1或2个Eon-ID)。
● 双传感器和源通道扩展能力(四通道可选)。
● 先进的技术增加了在工业环境应用的可靠性和耐久性。
● 突出的特点是内置温度监测和源控制。
● 输出输入端口:继电器:10个(可编程),只有1个中止;输入:8个(可编程)


产品优势
| 薄膜测量仪器 >> 薄膜在线监测控制仪器 >> 通用型薄膜生长厚度控制器 | 薄膜生长厚度控制仪
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