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三维光学轮廓仪 Contour Elite X
- 品牌:德国布鲁克
- 型号: Contour Elite X
- 产地:德国
- 供应商报价: 面议
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广州淘仪科技有限公司
更新时间:2024-08-14 08:56:31
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企业性质生产商
入驻年限第2年
营业执照已审核
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- 标签: 三维光学轮廓仪,轮廓仪
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- 详细介绍
完全自动化三维光学轮廓仪Contour Elite X三维光学剖面仪结合了无与伦比的测量能力,在业界最大的视野和高保真度彩色或单色成像的最高垂直分辨率。
没有任何其他计量系统提供非接触式精度、吞吐量、操作人员方便和成像能力来解决如此广泛的生产计量应用。为满足最苛刻的研发、质量保证和过程质量控制需求而设计,三维光学轮廓仪Contour Elite X提供了最终的量具能力三维光学剖面解决方案。
彩色成像与计量相结合
额外的高保真彩色成像,侧照明和先进的算法,使等三维光学轮廓仪Contour Elite X用户访问额外的视角,无法提供的系统,单独提供计量学,以及提供可识别的表面特征细节的报告能力。这使用户能够根据颜色或灰度信息分割数据,以快速选择感兴趣的区域,并从这些特定区域收集关键的计量数据。将高端计量学与观察、识别和显示测量结果的能力结合起来,不仅对于理解数据,而且对于交流结果,都是非常重要的。
最佳横向和纵向分辨率
三维光学轮廓仪Contour Elite X系统拥有好的组合横向和纵向分辨率超过行业的最大视野,有一个亚纳米到大于10毫米的垂直范围。它包括研发100奖的针灸XR测量技术,它提供了打破衍射极限在您的光学测量。此外,该系统还可以使用一个百万像素的相机来提高X-Y空间分辨率.从1倍到115倍的大视场和客观放大使得能够描述极其广泛的表面形状和纹理。
快速无损成像
三维光学轮廓仪Contour Elite X型剖析器是一个非接触系统与一个大的舞台,使您的样本或部分完整和未损坏。我们的专利白光干涉测量(WLI)技术获得高度数据的亚纳米精度,是独立于放大使用。这意味着,即使在一毫米范围内采样超过一百万个数据点--平方图像区域,用户也能够在几秒钟内收集到高分辨率的高度数据。
- 产品优势
- 三维光学轮廓仪Contour Elite X具有可靠光学测量,通知可量化的研发和QA/QC决定。
三维光学轮廓仪Contour Elite X的真色、成像揭示以前隐藏的微观细节。
柔韧、分期和固定,根据您的具体样本和应用情况量身定做。