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特性阻抗|特性阻抗测试系统

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详细介绍

特性阻抗|特性阻抗测试仪用途:

特性阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的,能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗,并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。

特性阻抗|特性阻抗测试仪特征:

1、批量化、自动化测试,操作简单、测试快捷,适合PCB工厂快速测试。

2、Windows操作环境,友好的人机界面,自动出具测试结果。

3、提供单端和差分阻抗测试。

4、支持2通道、4通道及8通道测试。

5、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。

6、集成测试文件编辑器,快速设置测试参数。

7、自动记录测试数据,生成报表并保存在磁盘上。

8、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。

9、打印测试报表、波形及测试结果。

10、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。

特性阻抗|特性阻抗测试仪技术参数:

项目

规格

控制阻抗测试范围

20-150Ω

测量精度

50Ω±1%

测量长度

最大2m,最小0.09m

水平显示分辨率

0.2mm

垂直显示分辨率

0.05Ω

测试方法

时域反射法(TDR)

技术资料
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