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NanoSystem NVM-6000P载板表面测量系统
- 品牌:
- 型号: NVM-6000P
- 产地:
- 供应商报价: 面议
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杭州雷迈科技有限公司
更新时间:2023-12-29 16:25:07
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企业性质授权代理商
入驻年限第8年
营业执照已审核
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- 详细介绍
- NanoSystem NVM-6000P载板表面测量系统
NanoSystem NVM-6000P是专用型设备,用于基板表面形貌的测量。 基板上的Via Hole,Pad形状,patten形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。 在高速测量下仍具有***的重复性和准确性,支持用户设定测量条件和测量数据自动保存及分析功能。
产品规格
扫描范围:0-180um(270um可选)
垂直分辨率:WSI:﹤0.5nm
台阶高度重复性:﹤0.5%(1σ)
横向分辨率:0.2-4um(取决于物镜和FOV)
工作台面:510X405mm(程控)
尺寸:1200(w)X1250(D)X1900(H)
应用领域
Nano View系列为LCD(液晶显示器)、IC Package(芯片封装)、Substrate(基板)、Build-up PCB(积层板)、MEMS(微机电系统),Engineering Surfaces(工程表面)等等领域提供纳米级别精度的量测。包括:PostSpacer,RGB,Charater,Back Pannel,Spray PR,Roughness,VIA hole,Cu Thickness,Cu Pad,Line Profile,Fiber,Array,Semiconductor,MENS,Abraslon,BGA.
ISO 25178 · 4287 国际规格标准化数据
按照ISO***机构规定的规格,以图表、表格、2D?3D图像的形式大面积显示粗糙度、高度及幅度等各类数据。
图形的粗糙度评价Roughness evaluation of images
Nano System利用从ISO、ASME、EUR等多家***机构获得的30多个粗糙度参数来评估Sample的粗糙度。
- 产品优势
- NanoSystemNVM-6000P是专用型设备,用于基板表面形貌的测量。基板上的ViaHole,Pad形状,patten形貌和表面形貌等11个项目可以进行自动测量。在高速测量下仍具有***的重复性和准确性,支持用户设定测量条件和测量数据自动保存及分析功能。
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