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少子寿命测试仪µPCD/MDP (MDPpro 850+)
- 品牌:弗莱贝格
- 型号: µPCD/MDP (MDPpro 850+)
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 束蕴仪器(上海)有限公司 更新时间:2024-07-17 14:37:56
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企业性质生产商
入驻年限第7年
营业执照已审核
- 同类产品少子寿命测试仪µPCD/MDP (MDPpro 850+)(1件)
联系方式:蒋健林021-34685181
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- 详细介绍
产品介绍:
MDPpro 850+
用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。
特点 :
◇ 寿命范围:20 ns至100 ms(样品电阻率 > 0.3 Ohm cm)
◇ SEMI标准:PV9-1110
◇ 测试速度:线扫描 < 30 s;完整的面扫秒 < 5 min
◇ 同时测量:寿命μPCD/MDP(QSS)和电阻率
◇ 自动几何形状识别: G12、M10晶砖和晶圆片
直拉硅单晶硅锭中的滑移线
应用 :
◇ 寿命 & 电阻率面扫描
◇ 晶体生长监控(即滑移线)
◇ 污染监测
◇ 氧条纹/OSF环
◇ P 型掺杂硅的铁面扫描图
◇ 光束感应电流(LBIC)◇ 发射极层的方阻
◇ 更多…
含有大量缺陷的准单晶硅锭的寿命测量
技术规格 :
材料 单晶硅 晶锭尺寸 125 x 125至210 x 210 mm2,晶砖长850 mm或更长 晶圆尺寸 直径可达300 mm 电阻率范围 0.5 – 5 ohm cm。根据要求提供其他范围 导电类别 p/n 可测量的参数 寿命-μPCD/MDP(QSS)、光电导率、电阻率等 默认激光器 IR激光二极管(980 nm,不超过500 mW)和IR激光二极管(905 nm,不超过9000 mW)。可根据要求提供其他波长
电脑 Windows 11或新版本、.NET Framework更新、2个以太网端口 电力要求 100 – 250 V AC, 6 A 尺寸(宽*高*长) 2560 × 1910 × 1440 mm 重量 约200 kg 认证 根据ISO 9001准则制造,符合CE要求 MDP studio - 操作和评估软件 :
用户友好且先进的操作软件具有:
◇ 导入和导出功能
◇ 带有操作员的用户结构
◇ 所有执行的测量概览
◇ 样品参数输出
◇ 单点测量(例如:注入浓度相关的测量)
◇ 面扫描
◇ 测试配方
◇ 分析功能包
◇ 线扫描和单点瞬态视图
远程访问基于IP的系统允许在世界任何地方进行远程操作和技术支持
配置选项:
◇ 光斑尺寸变化
◇ 电阻率测量(晶砖和晶圆片)
◇ 背景/偏置光
◇ 反射测量(MDP)
◇ LBIC
◇ P型掺杂硅中的铁图谱
◇ p/n检测
◇ 条码读取器
◇ 自动几何识别
◇ 宽的激光器波长范围
多晶硅晶圆线扫描
HJT晶圆的寿命测量
MDPpro850+ 应用 :
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- 产品优势
- 用于单晶硅锭、硅砖和硅晶圆片的生产和质量监控。用于HJT、HIT、TOPcon、双面PERC、PERC+太阳能电池、钙钛矿等中的硅材料。