二手 日本电子 JEM-2010 高分辨率透射电子显微镜 TEM

EM-2010 高分辨 透射电子显微镜

晶格分辨率：0.14nm

点分辨率：0.23nm：

zui高加速电压：200KV

放大倍数：2,000～1,500,000

样品台：单倾、双倾

CCD相机

EDS（牛津）

能量损失谱仪 EELS（Gatan）

可观察试样：

复型样品；金属薄膜、粉末试样；玻璃薄膜、粉末试样；陶瓷薄膜、粉末试样。

可以进行高分辨图像观察，位错组态分析；

第二相、析出相结构、形态、分布分析；

晶体位向关系测定等。

CCD相机可以实现透射电子图像的数字化。

能谱仪及能量损失谱仪可以获得材料微区的成分信息。