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OLED 残影测试系统
- 品牌:北京卓立汉光
- 型号: ZL-ISS
- 产地:通州区
- 供应商报价: 面议
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北京先锋泰坦科技有限公司
更新时间:2024-06-13 13:52:30
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企业性质生产商
入驻年限第3年
营业执照已审核
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联系方式:市场部13810146393
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- 详细介绍
目前市面主流的OLED 屏幕手机普遍存在烧屏现象,众所周知,烧屏现象是一个长期累积的过程,所以终端厂商普遍要求屏厂提供短期的残影测试报告,以便能够管控OLED 屏幕的品质,降低烧屏现象;
ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统,采用高灵敏度的快速亮度计,实现高效表征屏幕的残影现象;主要功能• 短期残影测试;• 亮度均匀性测试;• 屏幕长期稳定性测试软件界面技术规格参数
亮度范围
0.0001 to 100000cd/m2
亮度精度
±3%*1
像素
1900*1200
采样速率
≥1fps*2
镜头
24mm,28mm,35mm,50mm
可选
工作距离
> 350mm
空间分辨率
0.12mm*3
PG
可支持市面主流厂商 PG
样品zui大尺寸
190mmX110mm*3
样品类型
手机屏 \ 模组
稳定性
<0.5%
Pattern
客户可自定义
Pattern
*1:A 光源条件下测试精度;*2: 曝光时间<200ms; *3: 测试条件为28mm 镜头,工作距离为500mm探头稳定性曲线
某国产手机屏幕短期残影曲线