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Quantum Design XAFS300 台式X射线吸收精细结构谱仪 XAFS

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详细介绍

台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES

美国easyXAFS公司推出台式X射线吸收精细结构谱仪,采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,以超高灵敏度和光源质量,实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。此外,该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES),该表征本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以对样品的局部电子结构实现信息互补。广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。


XAFS/XES 设备特点 

-  无需同步辐射光源

-  科研级别谱图效果

-  台式设计,实验室内使用

-  可外接仪器设备,控制样品条件

-  可实现多个样品或多种条件测试

-  操作便捷、维护成本低

XAFS/XES 设备参数



X射线源:

XAFS: 1.2-kW XRD(Mo/Ag)

XES: 100W XRF 空冷管(Pd/W)
能量范围:4.9-20.5keV

分辨率:0.5-1.5eV
样品塔:8位自动样品轮
布拉格角:55-85 deg


XAFS300


高功率版,固定光源模式,采用1200W 功率X射线管作为X射线光源,与光学模块和探测器组装。台式X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪提供了透射模式测量,适用于储能或催化等领域的研究和开发。可升级为XAFS300+型号。


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产品优势
高功率版,固定光源模式,采用1200W 功率X射线管作为X射线光源,与光学模块和探测器组装。台式X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪提供了透射模式测量,适用于储能或催化等领域的研究和开发。可升级为XAFS300+型号。
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