一六仪器 XTU-4C 专业性能型膜厚仪

XTU-4C 是一款设计结构紧凑，模块精密化程度极高的镀层测厚仪，C 型开槽设计样品腔， 让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1) 搭载微聚焦加强型 X 射线发生器和先进的光路转换聚焦系统

2) 拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围 0-30mm

3) 核心 EFP 算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数 据分析(钕铁硼磁铁上 Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层 Ni 和第三层 Ni 的厚度)

4) 配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测

5) 可同时分析 23 个镀层，24 种元素，测量元素范围:氯 Cl(17)- 铀 U(92)，涂 镀层分析范围:锂 Li(3)- 铀 U(92)，涂镀层zui低检出限:0.005μm

6) 人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 

7) 标配四准直器自动切换，zui小测量面积可达 0.002mm2 

8) 配有微光聚集技术，zui近测距光斑扩散度小于 10%