RHESCA CSR-5000超薄膜附着强度测试仪 衡鹏供应

RHESCA CSR-5000超薄膜附着强度测试仪 衡鹏供应

RHESCA CSR-5000超薄膜附着强度测试仪
基于JIS R-3255标准，以MICRO SCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。为成膜研究与测试所必备的测试设备。

CSR-5000超薄膜附着强度测试仪特点：
·CSR-5000采用高感度的能够检测出薄膜破坏的MICRO SCRATCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。
·可测量膜厚μm以下的超薄膜的密着强度。
·加热环境下评价可能。
·镜片等曲面测量可能。
·可以进行以特定荷重来评价的特定负荷测试
·测试部位的设定以及测试后的划伤观察等简单易行
·测试不需要花费很多时间(1次测试约1～2分钟)

RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-5000规格
荷重检出机构         荷重印加范围         1mN ～1500mN
                 荷重分解能         0.3mN
                 允许过负荷         300%FS
剥离检出（垂直方向） 检出信号          加速度信号
                 频率范围         20Hz ～10kHz
摩擦力检出（水平方向） 检出信号         速度信号
                 频率范围         20Hz ～10kHz
传感器励振机构         励振频率         45Hz
                 励振振幅         0·5·10·20·40·50·80·100μm
探针                 触针形状         Φ1.6×6.5mm
                 材质 / 形状 金刚石R 5?10?15?25?50?100μm
                 材质 / 形状 蓝宝石R 250?500μm
Z 轴驱动机构
※荷重印加方向         驱动方式          步进马达驱动
                 驱动范围         20mm
                 驱动分解能         0.5μm
                 驱动速度( 测试时) 0 ～20μm/s
                 驱动速度( 准备时) 1mm/s
试料台XY轴移动机构 驱动方式         千分尺手动调节
                 移动范围         ±6.5mm
Data输出方式                                 USB
尺寸及重量                                 W540×D520×H630 (37kg) 含显微镜
电源                                          AC100V ～240V

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