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液晶层间隙(Cell gap)测量设备

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详细介绍

产品特点:

u以穿透、半穿透方式测量TFT、STN,以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶,也支持反射型TFT、STN液晶。视用途,从研发到品管皆有完整对应机种。

u除检测液晶层间隙(Cellgap),也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析,光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。


产品规格:

样品对应尺寸20mm×20mm~大型尺寸玻璃基板(2000mm×2000mm以上)
液晶层间隙测量范围0.1μm~数十μm
液晶层间隙测量再现性±0.005μm
检测器分光光谱仪
测量波长范围400800nm
光学系统

偏光光学系统

消光率10-5方解石偏光(Gran-tomsonprism

自动旋转(角度精度0.1o

自动装卸装置

测量口径Φ2510mm
光轴倾斜角度-1045o(选配功能)
重量60kg

光学配件:

相位差膜,椭圆膜,偏光膜,液晶显示器材料


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