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日立 台式XRF镀层测厚仪 X-Strata920
- 品牌:日立
- 型号: X-Strata920
- 产地:亚洲 日本
- 供应商报价:面议
- 日立分析仪器(上海)有限公司 更新时间:2024-07-17 10:48:57
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销售范围售全国
入驻年限第9年
营业执照已审核
- 同类产品镀层厚度测量仪(5件)
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产品特点
- 微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。
详细介绍
微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。
基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。
应用
微焦斑 XRF 光谱仪应用于 PCB、半导体和电子行业
PCB / PWB 表面处理
控制表面处理工艺的能力决定线路板的品级、可靠性和寿命。根据IPC 4556和IPC 4552A测量非电镀镍(EN,NiP)电镀厚度和成分结构。日立分析仪器产品帮助您在严控的范围内持续运营,确保高质量并避免昂贵的返工。
电力和电子组件的电镀
零件必须在规格范围内被电镀,以达到预期的电力、机械及环境性能。 开槽的X-Strata系列产品 ,可以测量小的试片或连续带状样品,从而达到 引线框架(引线框架)、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。
IC 载板
半导体器件越来越小巧而复杂,需要分析设备测量其在小区域上的薄膜。日立分析仪器的分析仪设计为可为客户所需应用提供高准确性分析,及重复性好的数据。
服务电子制造过程 (EMS、ECS)
结合采购和本地制造的组件及涉及产品的多个测试点,实现从进厂检查到生产线流程控制,再到质量控制。日立分析仪器的微焦斑XRF产品帮助您在全生产链分析组件、焊料和产品,确保每个阶段的质量。
光伏产品
对可再生能源的需求不断增加,而光伏在收集太阳能量方面扮演着重要的角色。有效收集这种能量的能力一部分取决于薄膜太阳能电池的质量。微束XRF可帮助保证这些电池镀层的准确度和连贯性,从而确保高效率。
受限材料和高可靠性筛查
与复杂的国际供应链合作,验证和检验从供应商处收到的材料至关重要。使用日立分析仪器的XRF技术,根据IEC 62321方法检验进货是否符合RoHS和ELV等法规要求,确保高可靠性涂镀层被应用于航空和军事领域。
X-Strata920
正比计数器X-Strata920
高分辨率 SDDFT110A
正比计数器EA6000VX
高分辨率 SDD
FT160
高分辨率 SDD
毛细管聚焦光
学系统ENIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ ENEPIG ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ 非电镀镍厚度和组成 (IPC 4556, IPC 4552) 无 ★★☆ 无 ★★★ ★★★ 非电镀镍厚度 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ 浸镀银 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ 浸镀锡 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ HASL ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ 无铅焊料(如 SAC) ★☆☆ ★★☆ ★☆☆ ★★★ ★★★ CIGS 无 ★★☆ 无 ★★★ ★★★ CdTe 无 ★★☆ 无 ★★★ ★★★ 纳米级薄膜分析 无 ★★☆ 无 ★★★ ★★★ 多层分析 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ★★★ IEC 62321 RoHS 筛选 无 无 无 ★★★ 无 检测特征 < 50 µm 无 无 无 无 ★★★ 模式识别软件
无 无 ★★★ ★★★ ★★★ 元素分布图
无 无 无 ★★★ 无 微焦斑 XRF 光谱仪应用于金属表面处理
耐腐蚀性
检验所用涂层的厚度和化学性质,以确保产品在恶劣环境下的功能性和使用寿命。轻松处理小紧固件或大型组件。
耐磨性
通过确保磨蚀环境中关键部件的涂层厚度和均匀度,预防产品故障。复杂的形状、薄或厚的涂层和成品都可被测量。
装饰性表面
当目标是实现无瑕表面时,整个生产过程中的质量控制至关重要。通过日立分析仪器的多种测试设备,您可以可靠地检测基材,中间层和顶层厚度。
耐高温
在极端条件下进行的零件的表面处理必须被控制在严格公差范围内。确保符合涂镀层规格、避免产品召回和潜在的灾难性故障。
X-Strata920
正比计数器X-Strata920
高分辨率SDDFT110A
正比计数器FT160
高分辨率SDDZn / Fe, Fe 合金
Cr / Fe, Fe 合金
Ni / Fe, Fe 合金★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ ZnNi / Fe, Fe 合金
ZnSn / Fe, Fe 合金★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al★★☆
(仅厚度)★★☆
(厚度和成分)★★☆
(仅厚度)★★★
(厚度和成分)Ag / Cu
Sn / Cu★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ Cr / Ni / Cu / ABS ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ Au / Pd / Ni /CuZn ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ WC / Fe, Fe 合金
TiN / Fe, Fe 合金★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ 纳米级薄膜分析 无 ★★☆ 无 ★★★ 多层分析 ★★☆ ★★★ ★★☆ ★★★ IEC 62321 RoHS 筛选 无 无 无 无 DIM可变焦测试系统 无 无 ★★★ 无 模式识别软件 无 无 ★★★ 无 产品对比
X-Strata920 (正比计数器)
X-Strata920 (硅漂移探测器)
元素范围 Ti – U
Ai – U
样品舱设计 开槽式 开槽式 XY 轴样品台 固定台、加深台、自动台
固定台、加深台、自动台
样品尺寸上限 250(宽)x200(深)x50(高)mm 250(宽)x200(深)x50(高)mm 准直器数量上限
6 6 滤光片数上限
3 (secondary) n/a 准直器尺寸下限
0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)
0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)
样品台行程上限
178 x 178 mm
178 x 178 mm
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