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日本PHL online 双折射测量仪WPA-KAMAKIRI
- 品牌：日本Photonic Lattice
- 型号： WPA-KAMAKIRI
- 产地：日本
- 供应商报价： 面议
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北京欧屹科技有限公司
更新时间：2023-08-03 14:42:38 -
企业性质
入驻年限第10年
营业执照
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- 日本PHL online 双折射测量仪WPA-KAMAKIRI 核心参数
- 详细介绍
WPA-KAMAKIRI
主要特点：可用来评估高相位差产品，PET薄膜和树脂成品
三波长测定双折射范围可达3000nm
可选配高相位差配件，满足10000nm的超过相位差测定需求
应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
树脂成型
玻璃
主要参数：项次
项目
具体参数
1
输出项目
相位差【nm】，轴方向【°】
2
测量波长
523nm、543nm、575nm
3
双折射测量范围
0-3000nm
4
主轴方位范围
0-180°
5
测量重复精度
<1nm
6
测量尺寸
97×77mm ～ 2900×2310mm
7
定制选项
光学配件，可测量超过10000nm的高相位差
- 产品优势
- Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片WM结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。
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| 仪器种类: | 台式 | 测量范围: | 0-3000nm |
| 准确度: | <1nm |
