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原子力显微镜测力学性能每测一个数据探针怎么处理

Aer弃权    2017-03-09    AFM探针    浏览 497 次

精彩问答
709769323 发布日期:2017-03-10
对于扫形貌用的半径只有几纳米的探针,只能用TEM测.对于几百纳米甚至微米的探针,用SEM.这些都是先照图片,再根据比例估算,不是太准.据说比较准的是用探针扫描碳纳米管,计算碳管宽度变化来反推探针半径.也有用极精密的探针在大探针上扫形貌直接测量大探针半径.
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