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邀请函丨赛默飞&胜科纳米电性失效分析主题研讨会

赛默飞世尔科技分子光谱    2020-09-25       浏览 306 次

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随着半导体制造工艺的快速发展,倒置式光学系统在电性失效定位工作中起到了至关重要的作用。赛默飞推出的Meridian S系统作为静态光学失效定位工具中的杰出代表,在电性失效分析领域中被广泛应用,它可以对半导体器件中的电性故障、电路短路、漏电以及晶体管活动进行非破坏性地分析定位。


为了进一步推进Meridian S在半导体行业中的应用和发展,赛默飞携手胜科纳米将于10月28日下午和30日上午第十一届ZG国际纳米技术产业博览会期间,各举办1场电性失效分析主题研讨会,现诚邀您参加本次研讨会,与同行一同探讨和分享电性失效分析技术进展!


本次研讨会,我们将讨论倒置式系统架构的优势,改进的静态激光调制(SLS),高分辨率的固体浸没式透镜(SIL)以及其他分析技术。

会议时间与地点

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您可以根据自己的日程安排,选择参加其中一场研讨会,您可以选择自行前往或乘坐班车前往研讨会地点。

班车时间与地点

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10月28日下午会议安排

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10月30日下午会议安排

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戴佳来

13501716667

jeffrey.dai@thermofisher.com




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