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 详细介绍G150M型平面干涉仪:专为计量级测试的需求设计，适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器，1-6.7倍图像放大功能，高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面标准镜等一系列高精技术，通过优化光学系统和机械系统结构，实现高精密平面光学元件的测量。选配静态干涉条纹分析软件，实现数字化测量。G150S为G150M:的简化版本，适合光学车间的现场检验。主要用途：平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶瓷等）表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试；准直系统波前质量的测试。 仪器规格参数表 产品型号 G150M G150S 有效通光口径 152.4mm（6英寸）

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QY-P-150M产品乾曜光学:专为计量级测试的需求设计，适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器，1-6.7倍图像放大功能，高精度的成像系统和图像采集系统，精密平面标准镜等一系列高精技术，通过优化光学系统和机械系统结构，实现高精密平面光学元件的测量。选配静态干涉条纹分析软件，实现数字化测量。QY-P-150S为QY-P-150M:的简化版本，适合光学车间的现场检验。QY-P-150M产品乾曜光学主要用途：平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶瓷等）表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试；准直系统波前质量的测试。 仪器规格参数表产品型号QY-P-150MQY-P-150S有效通光口径152.4mm（6英寸）测量方式菲索干涉原理光源氦氖激光（632.8nm）半导体激光器（635nm）连续变焦倍数1-6.7倍固定倍率光路切换对准（十字叉丝）与测试（干涉场）...

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1、产品的主要用途和特点 　 　　PG15-J4型产品是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如需配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。 2、产品的工作原理 本仪器工作基于双光束等厚干涉原理。根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的 波动性的特性。 3、仪器技术参数：  1、一标准平面（A面），不镀膜。 工作直径：D1=Φ146mm 不平度小于0.02μm(λ/30)。 2、第二标准平面（B面），不镀膜。 工作直径：D2=Φ140mm 不平度小于0.03...

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1、产品的主要用途和特点 PG15-J4型产品是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如需配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。 2、产品的工作原理 本仪器工作基于双光束等厚干涉原理。根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的 波动性的特性。 3、仪器技术参数：  1、一标准平面（A面），不镀膜。 工作直径：D1=Φ146mm 不平度小于0.02μm(λ/30)。 2、第二标准平面（B面），不镀膜。 工作直径：D2=Φ140mm 不平度小于0.03μm(λ...

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G200M产品为正立式结构，通光口径为200mm。 G200M弥补了国内使用有效口径150mm的干涉仪测试大尺寸光学系统和光学元件不能全口径 测试的不足，改善提高了大口径光学系统和光学元件测试精度。仪器规格参数表   产品型号 G200M G150M G150S 测量方式 菲索干涉原理 菲索干涉原理 菲索干涉原理 有效通光口径 200mm 152.4mm（6英寸） 152.4mm（6英寸） 标准镜材料 熔石英（康宁7980） 熔石英（康宁7980） 熔石英（康宁7980） 光源 氦氖激光（632.8nm）...

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QY-P-200型平面干涉仪 :为ZG首款标准镜有效口径达到200mm的平面干涉仪，改善提高了大口径光学系统和光学元件测试精度，弥补了国内使用有效口径150mm的干涉仪测试大尺寸光学系统和光学元件，不能全口径测试的不足。主要用途：平面类光学元件（包括玻璃、金属、陶瓷等）表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试；准直系统波前质量的测试。  光仪器特点 ◇ 精度高：标准镜精度高，且材料经过精密退火处理，稳定可靠；◇ 结构灵活：立式和卧式两种结构。立式适合测量光学元件，卧式适合测试光学系统；◇ 调整方便：通过切换开关选择对准与干涉场两种显示模式，方便调整；◇ 条纹真实：优良的光学设计，精密的系统装保证得到清晰、准确、真实的干涉条纹；◇ 性能优良：仪器具备良好的隔振性能，适合光学加工现场使用；◇ 配件丰富：选配密封罩，可将测试腔与外界气流隔离，降低测试过程中气流扰动，提高判断的准确性。选配衰减过滤片

供应商：北京世计联贸易有限公司

可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。光学平面的平面度测量、光学平板的微小楔角测量、光学材料均匀性测量、光学薄板波前误差的测量。

供应商：北京世计联贸易有限公司

可广泛适用于计量实验室对高精度平面的平面度检测和鉴定。能根据不同的要求打印出各种平面度测试的彩色等高图以及三维立体透视图。并给出波峰波谷值（PV），面形误差（Em），均方根值（Rms），光圈数等面形评价参数。人体温度对测量可靠性的影响为Z小。

供应商：上海宙山精密光学仪器有限公司

仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。

供应商：上海宙山精密光学仪器有限公司

PG15-J产品主要技术参数：1、*标准平面（A面），不镀膜。 工作直径：D1=Φ146mm，不平度小于0.02μm（λ/30）。2、第二标准平面（B面），不镀膜。 工作直径：D2=Φ140mm，不平度小于0.03μm（λ/20）。3、准直系统：孔径F/2.8， 工作直径：D1=Φ146mm，焦距：f=400mm4、测微目镜：焦距f=16.7mm,放大倍数β=15X，视场角2w=40o，成像物镜：I、D=4.5；П、D=7；Ш、D=10，f=16，f=23，f=375、干涉室尺寸：深260*宽300*190mm。6、光源规格：激光ZN18（He-Ne）。7、仪器的外形尺寸：长*宽*高 350*400*720mm。8、仪器重量：100公斤。