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非产品 非接触厚度测试仪 非接方块电阻触测试仪的主要特点 型号：SS-JXNR一、产品特点1.非接触测量硅半导体材料的电阻率2.适合测试硅片，不损伤样品表面。3.采用通用PC处理数据,方便数据存储、打印4.软件界面直观友好5.样片校准快速、方便二、推荐工作条件1． 温度：23±2℃2． 湿度：60%~70%3． 无强光照、无强磁场、不与高频设备邻近三、参数指标1．整机尺寸：340mm×260mm×150mm2．电阻率量程：0.1~50Ω﹡㎝3．误差范围：±5%4．硅片厚度：适合150-600um厚度北京奥德盛世科技有限公司： ：：：周先生邮箱：2119087137@qq.comQ Q: 2119087137网址：http://aodeshengshi. www.51294569.com