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- 产地:北京
- 供应商:北京莱泽光电技术有限公司
类型光学显微镜型号NanoFirst-5000系列 扫描产品 (SNOM) 电子电路驱动微扫描器,样品固定在微扫描台上随扫描台在XY平面内扫描,在Z方向进行精密移动,由光纤探针和石英音叉构成的光学探针由微动电机驱动,进行粗逼近。石英音叉传感器检测光纤控针与样品的剪切力,通过电子学反馈控制系统反馈给扫描平台,使探针与样品之间的间距保持恒定在纳米量级.由光电探测器探测光纤接收或出射端的光强,获得样品表面形貌和近场光能量分布;本装置由测量主体(光源、物镜,探针,扫描台等),扫描驱动电源,光电检测电源,CCD监视器,微机系统组成.功能和应用范围透射方式: 对透明薄膜样品,照明光源经物镜聚焦在样品表面,光探针在薄膜的另一面表面扫描,由探针接收样品表面散射光,获得近场图像.采用长焦距物镜使物镜焦点能够到达并照明厚样品的表面.物镜在三维空间可调.反射方式: 对不透明样品可以改变仪器光路和...
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XE-NOSM Park Systems的XE-NOSM型近场光学显微镜
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是否提供加工定制否类型光学显微镜 品PaiPark Systems型号XE-NOSM 仪器放大倍数780倍(160倍,390倍,1500倍)自动和软件调节控制目镜放大倍数/ 物镜放大倍数/重量/(g) 适用范围材料、电子、半导体、食品和生命科学等领域装箱数1 XE-NSOM是Park Systems专为高级光学研究而精心设计的一款专业产品,该仪器具备近场扫描光学显微镜、拉曼光谱仪和共聚焦显微镜功能。XE-NSOM为此类光学实验提供了一套性能可靠功能齐全的研究检测系统,此外,垂直方向高速伺服响应的压电扫描器和完善控制技术可实现真正的非接触模式原子力扫描。
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Nanonics扫描近场光学显微镜
- 型号: NSOM
**********************近场扫描光学显微镜的基本构造******************** 进行NSOM实验,必须将点光源靠到样品表面纳米距离,然后点光源扫描样品表面,再收集探测经过样品表面的光学信号。我们使用经金属涂层处理的带孔洞椎形光纤作为NSOM探针。光经耦合进入探针,从亚光波长孔径的探针发出,NSOM的分辨率就是由孔径的大小决定(可以达到50纳米)。点光源和样品表面的距离通常通过正常的力反馈机制(与AFM相同)控制,因此可以进行接触、敲击和非接触模式的NSOM实验。针对不同的材料和实验,通常有四种NSOM操作模式: * 透射模式成像——样品经过探针照明,光通过样品并与样品相互作用后被收集探测;* 反射模式成像——样品经过探针照明,光从样品表面反射并被收集探测;* 收集模式成像——样品经远场光源照明(从上
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散射式扫描近场光学显微镜
- 产地:欧洲
Neaspec s-SNOM的无损检测适用于: *极性晶体*半导体纳米设备*超材料和纳米天线*纳米线和纳米颗粒*聚合物和蛋白质 从可见光到兆赫兹的宽光谱范围内,Nea SNOM可以对各类物质性质进行扫描,分辨率达到纳米级别,例如: * 化学组成* 晶体结构* 机械压力/张力* 辐射损伤* 载流子浓度及迁移* 电场分布无论是描绘半导体纳米棒中载流子的分布、定量单晶体管内的掺杂浓度、探索聚合物混合物的形态还是纳米线 dark modes的可视化……
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NanoFirst-5000型 扫描近场光学显微镜
- 产地:上海
功能和应用范围 透射方式: 对透明薄膜样品,照明光源经物镜聚焦在样品表面,光探针在薄膜的另一面表面扫描,由探针接收样品表面散射光,获得近场图像。采用长焦距物镜使物镜焦点能够到达并照明厚样品的表面。物镜在三维空间可调。 反射方式: 对不透明样品可以改变仪器光路和探测器位置实现反射式测量。需另外增加接收探头。 提供windows系统下的应用程序。可以同时获取光学图像和形貌图像的,提供一至两个附加的采样通道和相应的图像显示存储功能。提供图像数据与标准图像格式的转换。提供伪3维图像显示,FFT滤波、平面校正、曲面校正功能。 技术指标 1. x-y线性扫描范围20um×20um;可扩展到30 um×30 um。 2. 扫描台在z方向的线性移动范围 3um,可扩展; 3. 光学分辨率: 50nm-100nm,取决于探针质量; 4. 光源波长
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THz-NeaSNOM 太赫兹近场光学显微镜
- 品牌:德国Neaspec公司
- 型号: THz-NeaSNOM
- 产地:德国
太赫兹产品 THz-NeaSNOM --30nm光学信号空间分辨率 产品简介: 太赫兹(THz)光源波长较大,一般在300微米左右。由于衍射极限的存在,THz远场测量系统的光学空间分辨率一般被限制在150微米左右。该THz光远场测量结果的准确度经常无法满足对材料科学研究,尤其是需要纳米分辨率的微细尺度材料分布研究(例如半导体芯片中各个组成:源极,漏极,栅极)的实验。THz-NeaSNOM产品的出现为此难题提供了一个很好的解决方案。 德国neaspec公司与Fraunhofer IPM在neaspec公司neaSNOM产品的基础上,已经成功研发了一套易用使用且THz系统的空间分辨率达到30nm的实验设备。 THz-NeaSNOM主要技术参数与特点: +优于30nm的空间分辨率+常用THz光范围:0.1-3THz+宽波段抛面镜+THz研究...
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FPAPE-SNOM 扫描近场光学显微镜
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这款扫描产品SNOM融合了新代的扫描探针技术和光学显微镜技术,它把微型光学探针非常接近材料样品表面,实现近场成像,扫描产品获得光学信息后提供的图像分辨率可达100nm以下,在SNOM显微镜品Pai中拥有高性价比SNOM显微镜价格。扫描产品Scanning Near Field Optical Microscope可获得阿贝衍射极限的分辨率,采用扫描探针显微镜压电式扫描技术和微型光学探针,可获得亚波长分辨率的光学图像。扫描产品SNOM特色集成双光学视图系统用于精确定位和远场光学研究兼容宽视场光学显微镜模式独立或同时的透射和反射测量模式超大工作波长范围允许光源倒置或吊射独立的光电探测器用于多重光信号收集就有可扩展性兼容第三方科学研究仪器扫描产品SNOM应用纳米科技材料科学生命科学生物学高分子研究半导体研究以衍射极限的分辨率获取样品光学图像
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扫描近场光学显微镜 alpha300S
- 品牌:WITEC
WITec alpha 300S是一种纯产品,在很多样品上都可获得一致的超高分辨率,并且拥有透射与反射式两种模式。该产品不同于其他的超分辨显微镜,如 STED 和 STORM,后二者往往受限于荧光染料分子的可选种类及特殊的激发光源。 alpha300S 系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程,操作非常简便、直观。由于近场光学信号极其微弱,alpha300 S 产品配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管,并同时提供检测器快速超载保护。更重要的是,UHTS 光谱仪可与 alpha300S系统兼容,实现近场光谱与成像测量。 关键特性:突破衍射极限的空间光学分辨率(横向约 60 nm)*的 SNOM 探针技术在空气与液体中均可使用包含多种原子力与光学显微镜模式非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术,基本不需要样品制备可升级到关联的共聚焦拉曼成像和近场拉...
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PA-STM 扫描近场光学显微镜
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- 产地:意大利
SNOM 光阑SNOM显微镜,收集反射光信号,传输和背反射模式的能力。一种表面科学,光学和生物学研究者谁需要一个基本的显微镜易于扩展,并用自己的科学仪器设备技术。 1、SNOM图像取样 2、双锁定 3、荧光检测
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扫描近场光学显微镜
- 产地:以色列
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NeaSNOM 超高分辨散射式近场光学显微镜
- 型号: NeaSNOM
- 产地:德国
超高分辨散射式产品 - NeaSNOM系统 NeaSNOM是市场*一款散射型扫描产品(简称s-SNOM),化的散射式核心设计技术,极大的提高了光学分辨率,并且不依赖于入射激光的波长,能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内,提供优于10nm空间分辨率的光谱和近场光学图像。NeaSNOM中嵌入了一些系列化的探测和发光模块,保证了NeaSNOM产品和谱图的可靠性和可重复性,成为纳米光学领域热点研究方向的科研设备,在等离基元、纳米FTIR和太赫兹等方向得到许多重要科研成果。NeaSNOM主要特点与独特技术优势 • 保护的散射式近场光学测量技术,独有的极高空间分辨率10nm • 基于高稳定性的AFM系统,同时优化了纳米尺度下光学测量• 采用双光束设计,极高的光学接入角:水平放下180° & 垂直方向 60° • 保护的反射式光学系统,用于宽波长范围的光源:可应用于可...