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仪器网-专业分析仪器,检测仪器,实验室仪器设备交易网纳米颗粒分析仪
仪器网/ 纳米颗粒分析仪 2024-07-22 18:09:21
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  • 品牌:掘场
  • 型号: Zeta电位分析
  • 产地:日本
  • 供应商:昂奇科技(上海)有限公司
  • 根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析,zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定。SZ-100的典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。颗粒分析仪采用动态光散射原理(DLS)。根据样品的物理性质,动态测量范围为0.3 nm – 8 μm。检测范围的下限受到以下因素的影响:样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响,因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池,通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多,斥力较大,较难发生团聚,溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地,发现zeta电位为零时(就是

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