-
-
- 型号： HEO-200
- 产地：杭州
- 供应商：杭州远方光电信息股份有限公司
LED热阻、LED参考热阻、LED结温专业测试仪器。配置专业热测试分析软件，可精确解析LED的分层热阻结构。按照国际EIA/JESD51《Integrated Circuits Thermal Measurement Method》、MIL-STD-750D《Test Method for Semiconductor Device》、国标GB/T4023-1997《半导体器件分立器件和集成电流第2部分:整流二极管》、部标SJ 20788-2000《半导体二极管热阻测试方法》、行标QB/T 4057-2010《普通照明用发光二极管性能要求》等国际和我国Z新制定的标准设计。
展开 -
相关产品
- 热电性能分析系统共7个
- 排列样式：
-
ZEM-5热电性能分析系统
- 产地：北京
ZEM-5产品 技术特点： · 适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料，提高测量精度 · 温度检测采用C型热电偶，适合测量Si系列热电材料(SiGe, MgSi等) *HT型 · 真正可测基板上的纳米级薄膜（TF型） · Z大可测10MΩ高电阻材料 · 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表 · 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2) ZEM-5HTZEM-5HRZEM-5LTZEM-5TF特 点高温型高电阻型Z大电阻：10MΩ低中温型薄膜型可测在基板上形成的热电薄膜温度范围RT-1200℃RT-800℃-150℃-200℃RT-500℃样品尺寸直径或正方形：2 to 4 mm2 ；长度3 ～ 15mm成膜基板：宽2-4mm，厚0.4-12mm，长20mm薄膜厚度：≥nm量级薄膜样品与基板要求绝缘控温精度 ...
-
BKTEM-Dx热电性能分析系统
- 产地：江苏 泰州市
BKTEM-Dx产品关键词：热电材料，Seebeck系数，电导率， 电阻率，V-1装置 产品介绍： BKTEM-Dx产品是我国热电材料的领军设备，是国家材料计 划中前沿装备，是我国科研人员几十年的精心参与和设计出来的热电材料 测试仪，其测试性能远超越国内外热电材料测试仪，不仅可以用于块体材 料同时也可以用于薄材料的测试，是目前国内高等院校和材料研究所的重要设 备。 对于热电材料的研究，热电性能测试是不可或缺的试验数据。BKTEM-Dx(x=1,2,3) 产品系列可以精确地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下: BKTEM-Dx产品由高精度，高灵敏度温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温，采...
-
ZEM-5热电性能分析系统
- 产地：江苏 泰州市
ZEM-5产品 技术特点： · 适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料，提高测量精度 · 温度检测采用C型热电偶，适合测量Si系列热电材料(SiGe, MgSi等) *HT型 · 真正可测基板上的纳米级薄膜（TF型） · Z大可测10MΩ高电阻材料 · 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表 · 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2) ZEM-5HTZEM-5HRZEM-5LTZEM-5TF特 点高温型高电阻型Z大电阻：10MΩ低中温型薄膜型可测在基板上形成的热电薄膜温度范围RT-1200℃RT-800℃-150℃-200℃RT-500℃样品尺寸直径或正方形：2 to 4 mm2 ；长度3 ～ 15mm成膜基板：宽2-4mm，厚0.4-12mm，长20mm薄膜厚度：≥nm量级薄膜样品与基板要求绝缘控温精度 ...
-
ZEM-3热电性能分析系统
- 产地：江苏 泰州市
ZEM-3产品 技术特点： · 温度检测采用R型热电偶 · 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表 · 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2) · 试样支架采用独特的接触式平衡机构，保证测量的高重现性 · 采用高级数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差 ZEM-LZEM-LSZEM-3M8ZEM-3M10测量温度-80℃-100℃-100℃-500℃RT-800℃RT-1000℃控温精度 ±0.5K测量原理 塞贝克系数：静态直流电； 电阻系数：四端法测量范围 塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K； 电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm 分辨率 塞贝克系数：10nV/K； ...
-
ZEM-3热电性能分析系统
ZEM-3产品 技术特点：· 温度检测采用R型热电偶· 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表 · 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)· 试样支架采用独特的接触式平衡机构，保证测量的高重现性· 采用高级数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差 ZEM-LZEM-LSZEM-3M8ZEM-3M10测量温度-80℃-100℃-100℃-500℃RT-800℃RT-1000℃控温精度 ±0.5K测量原理 塞贝克系数：静态直流电； 电阻系数：四端法测量范围 塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K； 电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm 分辨率 塞贝克系数：10nV/K； 电阻系数...
-
EM-5热电性能分析系统
EM-5产品 技术特点：· 适用于研究开发各种热电材料和薄膜材料，提高测量精度· 温度检测采用C型热电偶，Z适合测量Si系列热电材料(SiGe, MgSi等) *HT型· 真正可测基板上的纳米级薄膜（TF型）· Z大可测10MΩ高电阻材料· 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表· 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2) ZEM-5HTZEM-5HRZEM-5LTZEM-5TF特 点高温型高电阻型Z大电阻：10MΩ低中温型薄膜型可测在基板上形成的热电薄膜温度范围RT-1200℃RT-800℃-150℃-200℃RT-500℃样品尺寸直径或正方形：2 to 4 mm2 ；长度3 ～ 15mm成膜基板：宽2-4mm，厚0.4-12mm，长20mm薄膜厚度：≥nm量级薄膜样品与基板要求绝缘控温精度 ...
-
BKTEM-Dx热电性能分析系统
BKTEM-Dx产品关键词：热电材料，Seebeck系数，电导率， 电阻率，V-1装置产品介绍： BKTEM-Dx产品是我国热电材料的领军设备，是国家材料计划中Z前沿装备，是我国科研人员几十年的精心参与和设计出来的热电材料测试仪，其测试性能远超越国内外热电材料测试仪，不仅可以用于块体材料同时也可以用于薄材料的测试，是目前国内高等院校和材料研究所的重要设备。对于热电材料的研究，热电性能测试是不可或缺的试验数据。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精确地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下: 该装置由高精度，高灵敏度温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温，采用四点法的方式精确测定半导体材料及热电材料的Seebeck系...
