-
-
- 品牌:天瑞仪器
- 型号: EDX4500H
- 供应商:深圳市恩阳电子有限公司
EDX4500H 元素合金分析仪 X产品性能特点GX超薄窗X光管,指标达到国际先进水平 Z新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更高。在合金检测中效果更好SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比 天瑞仪器产品—信噪比增强器(SNE),提高信号处理能力25倍以上 低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好 智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元 针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐 解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增应得到明显的YZ内置高清晰摄像头 液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然EDX4500H 元素合金分析仪 X产品技术参数产品...
展开 -
相关产品
- 射线光谱分析仪共30个
- 排列样式:
-
X射线光谱分析仪,江苏天瑞仪器股份有限公司
- 型号: Thick8000
- 产地:中国大陆
产品介绍 X射线膜厚检测仪是通过一次X射线穿透金属元素样品时产生低能量的光子,俗称为二次荧光,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值,电脑操作,非常简单,江苏天瑞仪器股份有限公司是专业X射线膜厚检测仪生产厂家,thick8000是公司新款的X射线膜厚检测仪,采用上照方式,移动测试平台,使整个自动化程度大幅度提高,满足快速的要求。 性能优势 1.精密的三维移动平台 2.的样品观测系统 3.先进的图像识别 4.轻松实现深槽样品的检测 5.四种微孔聚焦准直器,自动切换 6.双重保护措施,实现无缝防撞 7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度 全自动智能控制方式,一键式操作!开机自动自检、复位; 开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样; 关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦; 直接点击全景或局部景图像选取测试点; 点
-
Thick8000 x射线光谱分析仪,镀层测厚仪
- 品牌:天瑞仪器
- 型号: Thick8000
- 产地:江苏
Thick 8000X射线镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端镀层光谱分析仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。 仪器配置x产品,镀层测厚仪 1 硬件:主机壹台,含下列主要部件: (1) X光管 (2) 半导体探测器(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统(7) 上照、开放式样品腔 (8)双激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2 软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0 参数规格 1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 2.同时检测元素:多24个元素,多达5...
-
Thick8000 镀层测厚仪x射线光谱分析仪
- 型号: Thick8000
镀层测厚仪x产品仪器配置 1 硬件:主机壹台,含下列主要部件: (1) X光管 (2) 半导体探测器(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统(7) 上照、开放式样品腔 (8)双激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2 软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0 镀层测厚仪x产品参数规格 1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 2.同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层;3.分析含量:一般为2ppm到99.9%;4.镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同);5.SDD探测器:分辨率低至135eV;6.先进的微孔准直技术:小孔径达...
-
Thick8000 x射线光谱分析仪,镀层测厚仪
- 型号: Thick8000
x产品,镀层测厚仪仪器配置 1 硬件:主机壹台,含下列主要部件: (1) X光管 (2) 半导体探测器(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统(7) 上照、开放式样品腔 (8)双激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2 软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0 x产品,镀层测厚仪参数规格 1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 2.同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层;3.分析含量:一般为2ppm到99.9%;4.镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同);5.SDD探测器:分辨率低至135eV;6.先进的微孔准直技术:小...
-
x射线光谱分析仪,镀层测厚仪
Thick 8000X射线镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端镀层光谱分析仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。 仪器配置 1 硬件:主机壹台,含下列主要部件: (1) X光管 (2) 半导体探测器(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统(7) 上照、开放式样品腔 (8)双激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2 软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0 参数规格 1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 2.同时检测元素:Z多24个元素,多达5层镀层;3.分析含量:一般
-
Thick8000 x射线光谱分析仪,镀层测厚仪
- 型号: Thick8000
仪器配置 1 硬件:主机壹台,含下列主要部件: (1) X光管 (2) 半导体探测器(3) 放大电路 (4) 高精度样品移动平台(5) 高清晰摄像头 (6) 高压系统(7) 上照、开放式样品腔 (8)双激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2 软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0 x产品,镀层测厚仪参数规格 1.分析元素范围:硫(S)~铀(U); 2.同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层;3.分析含量:一般为2ppm到99.9%;4.镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同);5.SDD探测器:分辨率低至135eV;6.先进的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0....
-
XL2 980 x射线光谱分析仪
- 型号: XL2 980
- 产地:上海
公司简介: 上海秦治实业有限公司是专业销售及代理世界著!名仪器的公司,公司目前主要负责美国Thermofisher赛默飞世尔公司旗下品PaiNITON手持式分析仪在ZG华东华南地区的销售及售后服务。 我司主营产品有:1.NITON手持式合金分析仪系列,应用于:金属废料回收领域、成品QA QC检测、PMI现场检测;2.NITON手持式RoHS分析仪系列,应用于:出口电子产品的RoHS检测、无卤检测、玩具等消费品有害物质的检测及其他QA/QC应用;3.Thermo ScientificTM ARL easySparkTM 1160 全谱直读光谱仪专为有大量金属分析需求的冶炼行业和实验室而设计,该仪器延续了高质量的传统,同时提供简易、可靠和经济的分析方案,满足了广大铸造、金属加工、冶金工业和实验室的需求。公司参照国际上同业的操作规范和经验,建立了适合ZG市场经济环境的运作体系,坚持“专业化公司”
-
Thick800A 800A X射线光谱分析仪
- 型号: Thick800A
- 产地:江苏 苏州市
800A X产品器X荧光镀层测厚仪 型号:Thick800A 800A X产品器产品说明、技术参数及配置 仪器介绍Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加JZ良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术指标型号:Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀(U)。同时可以分析30种以上元素...
-
WDX200 波长色散x射线光谱分析仪
- 型号: WDX200
- 产地:江苏 苏州市
波长色散x产品波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。固定道波长色散X荧光光谱仪 型号:WDX200 产品说明、技术参数及配置 仪器介绍WDX-200小型多道X射线荧光光谱仪可配置10个固定分光道,可同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从Na到U的任意十种元素。该仪器可广泛应用于水泥、钢铁、粉末冶金、煤炭、石油、高岭土、玻璃、耐火材料、环保等行业,是大中型企业质量控制的理想选择。波长色散x产品性能特点粉体样品或块样品快速,非破损分析。采用多路高速MCA并行实时检测各元素谱峰,不仅便于调试仪器和故障诊断,而且有利于提高...
-
X射线光谱分析仪
- 型号: EDX4500
- 产地:中国大陆
X产品详细信息说明X产品产品介绍 X产品是一款无损、快速、准确的分析检测仪器,分为波长色散X产品和能量色散X产品,产品广泛应用于钢铁冶金、电子电器、水泥、土壤、金属、五金工具、电镀等企业,产品广销售国内外。 X产品性能参数 产品型号:EDX 4500产品名称:X荧光光谱仪 测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)同时分析元素:一次性可测几十种元素 测量时间:60秒-200秒 探测器能量分辨率为:145±5eV管压:5KV-50KV 管流:50μA-1000μA测量对象状态:粉末、固体、液体输入电压:AC 110V/220V环境温度:15℃-30℃ 环境湿度:35%-70%外形尺寸:660mm×510mm×350mm 样品腔体积:Φ320mm×100mm重量:65Kg元素含量分析范围: p...