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- 品牌:TSI
- 型号: 3938
- 产地:美国
- 供应商:厦门市莱驰电子科技有限公司
美国TSI产品分析仪特点和优点高分辨率数据:多达 167 个通道广泛的尺寸范围:从 2.5 nm 到 1000 nmISO 15900:2009 兼容快速测量:< 10 秒扫描宽的浓度范围内, 107 个颗粒每立方厘米Z大的灵活性?组件的设计没有电脑的操作所需的?触摸屏控制易于安装与不安装工具和自动发现部件离散粒子测量:适用于多模样本独立的颗粒和流体的光学性质宽范围的系统的选择:水或丁醇 CPC 选择;传统的或非放射性中和剂的选择美国TSI产品分析仪应用纳米技术研究和材料的合成大气研究和环境监测燃烧和发动机排气的研究室内空气质量的测量核 / 冷凝的研究吸入毒理学研究内容包括静电分类器与您选择的 DMA 柱气溶胶仪器 ? 软件数据采集计算机必须单独购买。纳米技术研究和材料的合成大气研究和环境监测燃烧和发动机排气的研究室内空气质量的测量核 / 冷凝的研究吸入毒理...
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粒径范围: 5.4 – 358 nm (M-DMA)11 – 1110 nm (L-DMA)粒径分辨率:标准44 channels,可优化为256通道气体流速:样气: 0.3 L/min鞘气:3.0 L/min流速控制:载气:通过喷嘴的传感器的压力差控制流速,对环境的震动不敏感流体系统工作流体:Working Fluid 1-Butanol (Reagent-grade p.A.)液体除去:Continuous drain with a micro-pump into drain bottle通讯:RS-232 9-pin D connector,ascii 格式,PCMCIA SRAM 4MB可接三路模拟信号气象或气体传感器操作条件:环境温度:10 to 35°C (50 to 95°F)环境湿度: 0 to 95% RH, noncondensing压力:环境压力 ± 50 m
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TSI SMPS 扫描电迁移率粒径谱仪
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高分辨率数据:多达 167 个通道 广泛的尺寸范围:从 2.5 nm 到 1000 nm ISO 15900:2009 兼容 快速测量:< 10 秒扫描 宽的浓度范围内, 107 particles/cm3 Z大的灵活性组件的设计 无需电脑的操作, 触摸屏控制
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(SMPS-3938)美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪
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产品(SMPS-3938)美国TSI产品详情 TSI 的产品广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所( NIST )使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm 和 100 nm 的标准尺寸的参考材料。产品是一个地粒径检测技术,没有假设颗粒的形状粒度分布而直接测量数浓度。该方法是独立的颗粒或流体的折射率,并具有高度的尺寸精度和测量重复性。 TSI 模型 3938 是粒径谱仪的第三代;可信的研究人员超过 30 年。 特点和优点 高分辨率数据:多达 167 个通道 广泛的尺寸范围:从 2.5 nm 到 1000 nm ISO 15900:2009 兼容 快速测量:< 10 秒扫描 宽的浓度范围内, 107 particles...
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3938 TSI3938型扫描电迁移率粒径谱仪
- 型号: 3938
TSI3938型产品 TSI3938型产品 TSI3938型产品TSI3938型产品 TSI3938型产品 TSI3938型产品高分辨率数据:高达167通道 1nm到1,000nm的极宽粒径范围 符合ISO 15900:2009标准 快速测量:
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U-SMPS 扫描电迁移率粒径谱仪
U-SMPS 产品Palas® U-SMPS(Uuniversal Scanning Mobility Particle Sizer产品)用于亚微米颗粒粒径分布研究。颗粒大小和浓度的测量在健康领域广为研究,如吸入ZL、工作环境评价,同时在环境监测领域也广为关注。 Palas® U-SMPS由一个DMA静电迁移率分析仪和CPC凝聚核粒子计数器,DMA静电迁移率分析仪又称为DEMC差分粒子电迁移器。气溶胶颗粒根据他们在电场中的性质不同而被分离,然后被CPC凝聚核粒子计数器计数或Palas® Charme®气溶胶静电计检测,软件将以上数据反演为气溶胶粒径和浓度分布图。 用户可以自行设置粒径范围,Z快30秒可以扫描一次。用户也可以设置电压,获得更好的分离效果。U-SMPS 产品系统触摸屏图形化的用户界面,测量值线性和对数显示,内存数据管理。数据评价软...
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德国Grimm SMPS 德国Grimm SMPS 扫描电迁移率粒径谱仪
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SMPS产品(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,系统由DMA+CPC组成,或由DMA+FCE组成,用于5nm到1100nm的颗粒分析。DMA(Differential Mobility Analyser)差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类,为减少大颗粒的干扰,通过切割头将粗的颗粒去除,同时为了消除对电荷对气溶胶颗粒的影响,建议前置个静电中和器。DMA的顶端入口设计成U型,以减少颗粒损失;顶端带有层流器,使得气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地,ZX极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与ZX极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度),具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出,其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流...
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3938 TSI 3938型扫描电迁移率粒径谱仪
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TSI推出的SMPS TM 产品被广泛应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的测量标准。该系统同样被应用于对液体悬浮颗粒进行精确的纳米颗粒粒径测量。美国国家标准与技术局(NIST)使用TSI差分静电迁移率分析仪(DMA)对60nm和100nm的标准参考粒径进行测量。SMPS TM 产品粒径测量是审慎的技术,在该技术方法中计数浓度会被直接测量而无需假设粒径分布的形状。该方法不依赖于粒子或液体的折射率且具有高度的粒径测量精度和测量可重复性。TSI的3938型仪器是SMPS第三代产品,历经30年深受研究者信任。将您的旧系统升级成新型SMPS 3938 型系统:能够享受30% 的折扣! 特性和优点 高分辨率数据:高达167通道1nm到1,000nm的极宽粒径范围符合ISO 15900:2009标准快速测量:
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BMI SEMS2100 美国BMI SEMS2100扫描电迁移率粒径谱仪
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特点与优势提供Z广泛的粒度范围 - 选择直径可达2微米循环DMA鞘流无需外部泵快速CPC响应时间和DMA扫描时间精确的体积测量易于使用的软件显示数量,面积和体积的浓度分布全自动的,长期无人操作高电压设计几乎消除电弧问题单分散颗粒的选择和与反转扫描软件实时温度,相对湿度和压力测量 SEMS的原理图(*配置,不在我们的SMPS配件中)应用环境气溶胶连续监测实验室流管研究云凝结核研究能见度降低的研究气溶胶对健康的影响长期的气候和空气质量监控采样高度瞬态工况气溶胶浓度通过飞机载体,进行气溶胶垂直分布研究 采样时间在6秒和60秒之间,60种粒径的分布图形 参数数值可选择的粒径范围0.005—1.0 or 0.01–2.0扫描时间5 secs to > 1 hour流量范围0.1~2 lpm (气溶胶);2.5~10 lpm (鞘气)颗粒浓度范围1-10000000 /立方厘米电压范围0-550...
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3938 3938型扫描电迁移率粒径谱仪
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特性和优点 高分辨率数据:高达167通道1nm到1,000nm的极宽粒径范围符合ISO 15900:2009标准快速测量:
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美国TSISMPS3938 美国TSI扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)
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- 型号: 美国TSISMPS3938
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TSI公司是一家设计并制造流体测量、环境颗粒物及其它环境参数实时监测等高精密仪器的跨国公司,产品涉及基础研究、环境监测、劳动保护、生物医药及工业生产等诸多领域,能满足工业、政府部门、大学及研究机构等不同层次的需求。 TSI公司自1961年开始提供流体测量设备,发展到现在,从Z初的热膜风速仪(HWA),到现在的粒子图像测速仪(PIV)、激光诱导荧光系统(PLIF)、激光多普勒测速仪(LDV)及相位多普勒颗粒分析仪(PDPA),一直在是世界流动测量技术的革新者,也是各大学、研究机关的选择。 TSI公司自1967年在美国明尼苏达大学颗粒技术实验室配合下生产*台3000型气溶胶分析仪以来,陆续推出了一系列气溶胶分析仪,其中许多都是与世界的气溶胶科学家一同开发并由TSI公司生产的。TSI公司气溶胶分析仪器主要有:气溶胶粒径分布谱仪、气溶胶粒子计数器、气溶胶发生器、气溶胶飞行时间质谱仪、气溶胶浊度仪、